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  • nps

    第21楼2010/12/04

    还是和样品中磷含量有关，含量太低了，用标准模式或者反应气模式检测限到不了那么低，冷焰可以显著降低检出限，但是受基体影响更明显，纠结啊。

    开心(Edwardyan) 发表:支持popo兄的观点。最好别用冷焰测定P。P本来就较难电离，冷焰的话离子化效率就更低了。

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  • kiwi-kids

    第22楼2010/12/06

    其实高分辨率质谱这个时候应该派上用途了

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  • 光哥

    第23楼2010/12/06

    应助工程师

    貌似如果没意外的话，硅外延用三氯氢硅的杂质分析GB是通过了，P用冷焰

    不过感觉这个标准好那么什么什么的～～。。。。

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  • zhangjing770880

    第24楼2013/05/02

    你好，请问下目前FPD方法怎么样了啊！有进展没?

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  • liaoxiaozi

    第25楼2014/07/24

    GC-MS测试一下试试 理论上实现比较容易 正在做氢气中磷的测定有兴趣可以联系 光谱可以做到2ppb 石墨炉原吸应该是最好的选择低干扰高灵敏度

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  • zxm1987322

    第26楼2020/04/21

    楼主还在这个行业吗？

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  • 光哥

    第27楼2020/04/21

    应助工程师

    帮回复下：早就不在了

    zxm1987322(zxm1987322) 发表:楼主还在这个行业吗？

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  • nps

    第28楼2020/04/27

    ，是的，不在多晶硅行业了，现在是第三方检测...

    光哥(xsh1234567) 发表: 帮回复下：早就不在了

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