所有X射线衍射书上都有的，谢勒公式。

是的,每台仪器都有自己的半高峰,而且不同衍射角的半高宽还不一样,因此,测量样品的晶粒度时,一般要提供标准样品,所谓标准样品就是没有应力(完全退火),没有晶粒细化,晶粒度在1000nm左右的同类型样品.为了省事,有些软件如JADE就使用统一的标准样品Si.先测量硅的衍射谱用JADE处理后作为仪器的半高宽(一条随衍射角变化的曲线),保存在JADE的参数里,以后测什么样品都用它作仪器的参数.在本论坛里已经多次回复这个问题,你可以去看看,另外,在小木虫论坛里的木虫原创版有XRD的详细JADE中文使用手册,你不妨去看看,原理和使用方法都有,一看就明白了.

谢乐公式：L= k λ/ βcosθ

软件可以排除仪器本身的影响吗？

软件可以排除仪器本身的影响吗？

黄老师回复的挺清楚，俺补充两句。利用展宽来测定晶粒度有一定的范围限制，在0-50nm 的样品测定相对准确，超过100nm的晶粒样品就没有什么意义了；此方法晶粒测定是一个平均的结果。

同一台仪器利用标样校正就是为了排除仪器展宽影响。