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谢谢！是有可能。我重做一下样品试试。

关于能谱的杂峰，那天开用户会讨论过，主要会出这么几个：
Cu：不说了，多半认为是Cu网的原因
Cr：工程师认为可能和样品台表面镀Cr有关系，或者是样品室里面器壁的微量杂质。
Si：工程师认为是污染，但说也有可能是探头晶体造成的杂峰，一般这个峰会很低，如果比较大，考虑是不是你做样品用玛瑙研钵研磨过，或者从玻璃上挂擦过。

没有听过‘溢出峰’的说法，可以把能谱图片或定义给出来吗？

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多谢了！

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附上能谱，请多指点， 谢谢！

不清楚，觉得除了污染之外，也有可能是和峰：就是在计数量太高的时候两个电子同时计数，就把两个能量加和成为一个假峰，那么降低计数量如果该峰消失，就说明是和峰。不过你的Si信号比较强，不太像。

那就看看制样过程有没有带入Si了，如果没有就应该是样品本身含Si了。

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谢谢！不管咋样，还是先重新做个样品，看看还有没有Si峰。若还有，试试版主的推荐的方法检测一下。
在请教一下，若是从探头出来的Si峰，有没有办法消除掉？

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谢谢！

不清楚，明天我问问工程师吧。