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  • markon_yan

    第12楼2010/08/23

    EMAIL 啊,想好好学习下.平时有用,但是平实际经验,而已.

    中石(midstone) 发表:忘了，本人的联系方式1 3 9 2 6 5 6 3 7 5 6， 2 6 0 6 6 4 5 6

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  • alinxia

    第13楼2010/10/15

    要让基本参数法用于实际测定，主要难点有二点：计算理论强度；重叠谱的解析。不知楼主是搞科研呢，还是仅仅感兴趣。这可不是一二天就能实现的

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  • shujun0121

    第14楼2011/08/18

    谁有这方面的资料啊，上传一下，学习学习

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  • huier1223

    第15楼2011/08/18

    很有道理，先要把基础的东西搞懂。
    记得前年和一位清华的博士谈论基本参数法，说得我很无语，我只好说请他先看看什么是基本参数法。

    ljzllj(ljzllj) 发表:个人觉得，先把基础的应用知识弄明白了，再去研究更深一些的。否则有些本末倒置了。基本参数法没有想像中的那么简单。

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  • 金水楼台先得月

    第16楼2011/08/18

    他是怎么说的呢。

    huier1223(huier1223) 发表:很有道理，先要把基础的东西搞懂。
    记得前年和一位清华的博士谈论基本参数法，说得我很无语，我只好说请他先看看什么是基本参数法。

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  • bennaiyou

    第17楼2011/08/18

    基础类的内容，需要经历多了，理解才深刻，否则只能是过雨烟云。

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  • lxp0729

    第18楼2015/01/26

    你好，我想请问一下，您做过微量硅的荧光测试吗，有机物里的杂质硅，ppm级别的？非常感谢！！

    中石(midstone) 发表:楼主你好。
    本人从事过能量色散XRF的研究，已解决了基本参数法、薄膜基本参数法全部技术要点，包括：谱线分数、跃迁因子、荧光产额、质量吸收系数、原级X射线分布等、迭代收敛等。这些都已形成成熟的软件。
    至于3楼的疑问，可以这么说：虽然FP法是理论计算，其结果确实比不上与标样对比。但用FP进行一些缺乏标样时的半定量分析完全是可行的，如果用FP法在与标样结合，则分析结果可以超过标样法。本人的软件，FP法无标样分析能达到0.01%级别的分析精度，相对分析误差主、次元素可达3%以内，微量元素可达10%以内。

    如果有兴趣了解的，可以与本人联系。

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  • 难得糊涂

    第19楼2015/02/10

    怎么一会是波长 一会是能量

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  • 北京安科慧生

    第20楼2016/04/23

    你好！我们公司研制MWD XRF和HS XRF，对有机物中硅检出限达到1PPM，有兴趣可以保持接触！

    lxp0729(lxp0729) 发表:你好，我想请问一下，您做过微量硅的荧光测试吗，有机物里的杂质硅，ppm级别的？非常感谢！！

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  • 北京安科慧生

    第21楼2016/04/23

    你好，我们研制出HS XRF 与MWD XRF能够将硅的检出限降低到1ppm，只有基于双曲面弯晶的X射线荧光光谱仪技术才能完成超低轻元素含量的检测

    lxp0729(lxp0729) 发表:你好，我想请问一下，您做过微量硅的荧光测试吗，有机物里的杂质硅，ppm级别的？非常感谢！！

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