这种由矿物效应引起的偏差，如果非得采取压片法的话，最后用相似组成的样品建立工作曲线，最大限度的减小矿物效应的影响。

斜率常数为负，会不会是SiO2的含量过高导致了干扰，做个共存元素校正，去除干扰，试试看
在不能保证样品中几乎全部元素都能被测得的前提下，不要用归一化，那样会放大误差的

既然压片法存在这么多问题，为什么不改用熔片呢
你斜率常数为负，也可能是你曲线中某些标样有问题
用生产样来做标准样品绘制标准曲线

因为样品比较多，所以才决定利用压片法进行，对于重要样品采用融片法。
我是利用我们公司生产的样品来进行配置标样的，可是Al和Si的相互干扰就是无法排除。

你确定你所配置的标准样品含量是准确的么？
看到你前面所说你采用了归一化，试将归一化取消看Si和Al哪个含量是准确的，最后采用差减法求另一元素含量。

WDXRF中，Al和Si使用PET晶体，是不可能有干扰的，除非你是分析纯铝中的痕量Si，耐火材料我做过，没有碰到过Al和Si的干扰，两者角度相距甚远。Al，144.713度，Si，109.028度，是不可能有干扰的。

恩，最近我看了一些这方面的资料，也确实发现Al和Si不应该有干扰，估计是因为在配比过程中有些含量值不准确造成的。