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  • 第11楼2006/05/02

    FIB如果每天能上机4个小时，我想一个星期下来就能做出来，甚至时间可以更短，哈哈。

    我们经常用allied的polisher来磨wedge样品，很快，薄区很长，最后用pips打一会就好了。我们这的从美国回来的博士后都说这是他见过的最好的方法。

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  • 第12楼2006/05/05

    如果FIB做普通样品很快，也很简单。
    但是如果要定位在一个80nm长宽的地方作出合格TEM样品来，恐怕非易事。
    记得精工一个应用工程师，搞了两个星期，给我们做出了一个马马虎虎的样品。后来是TDK一个有过10年经验的工程师来做，一个星期，没作出一个样品来，气呼呼的走了。
    说实话，我觉得挑战性还是挺大的。三个工程师为一台机子，搞一天的样品，我一个小时就给他们全部否决了。大家都开玩笑，有心脏病的人别作这种样品。

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  • 第13楼2006/05/05

    机械研磨有一个很大的问题，就是表层有1um左右的损伤层。所以，磨太薄容易引起原来的物质变化啦。看到已经不是原来的东西。
    我们有很好的polish机,但一般我们只磨到10um就不磨了。

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  • 第14楼2006/09/24

    太感谢了，正好用上。谢谢

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  • 第15楼2006/09/25

    好象这三种方法的用途不太一样,我需要做观察细小夹杂如MnS、BN等，别人说离子减薄不适合，位错团太多，看不清楚。高手能否高之各方法的适用条件，及北京哪里有TEM且排队不那么费劲的地方？谢谢！

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  • 第17楼2006/09/27

    备用，透射电镜到位就实施，谢谢！

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