3.　谱处理过程，得到各元素的荧光强度

　　谱处理的主要目的是获得待测元素的特征谱线的净峰面积，即净强度。在测量谱中含有待测元素的K系、L系、M系线，以及合峰、逃逸峰、康普顿散射峰等，此外，还需要考虑背景的影响。
　　对于实测谱图，基本计算步骤为：
（一）扣背景
（二）寻找靶材峰及其康谱顿峰
（三）寻找待测元素的峰，寻峰过程中，应该解决元素不同谱线间谱线重叠的影响。

4.　基体效应校正过程
　　
　　由标准曲线模型设定的校正方法计算样品中各元素含量，基体效应校正方法有几种，经验系数法，基本参数法和理论影响系数法。
　　经验系数法最常用，需求标样最多，计算结果最可靠；
　　基本参数法对标样的数量没有要求，通常在没有标准样品时使用，计算精度取决于样品的组成及操作者的熟练程度，计算量巨大。
　　理论影响系数法介于二者之间。

这个没有密码怎么上啊,你有吗？

我是从资料里下载的。具体你需要问楼主。你可以站内短信问他

学习一下。

步骤很容易，就是在做干扰校正时，如何选择校正元素，比较纠结。

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