那是不是这样？如果不知道污染碳结构，可以通过其他已知的稳定结构来作标准？比如负载性催化剂，可以利用载体的标准峰来做校准反而比C来的准确。
顺便问一下，这个CD wagner的手册哪里有呢？有电子版就好了。

其实说实在的我也不知道该怎么说，我刚刚开始负责一台xps，我对它可以说是非常迷茫，不知道该从何处下手．对了还想问的是，后天我要回家．因为我这个是新手贴，如果结帐了能不能在看到各位大哥在这上面的留言．可是我不结帐，又怕被斑竹扣了积分．上次因为多点了一次被斑竹扣了５个声望和２０个积分．不要再被斑竹扣了积分．

说实在的至于您说的数据需要多准，我也不清楚．但是以后有一天对仪器熟悉了．总要对外使用，不能让人家话钱，却得到不准确的数据．毕竟这是科学数据，不容许出一点马虎啊！

对了还有您说的关于荷电外移，我在一本书上看到过他有３种情况引起．其中有一种就是在在双面胶上压制时候尽量的要薄．如果太厚也容易引起荷电外移．但是如果你们用过双面胶也知道，如果样品太薄还容易粘在一起，所以老是做不好，要不厚要不薄，郁闷．

如果污染碳不符合你的精度，可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准？

我在其他的文献上也看见过用其他的校正，如Ｓ和Ｓi．但是我不知道什么时候用他们，因为他们也有荷电外移啊！而且以前有的时候有问题都不知道该问谁！不过现在好了，让我在一次偶然的机会认识了你们这些大哥，现在我总算可以有问的对象了．

[C D Wagner的手册中所用的C1s校准峰为284.8eV，而不是所说的284.6eV。你可以查到多种校正参考数据。但没有标准数据。因为所说的污染碳是什么，没有准确的结构，且在不同的衬底上不同的厚度，峰都会有偏。荷电校准是个值得研究的问题。需要有一定的经验和工作积累。另外，用于比对的实验能谱数据没有标准数据只有参考数据。现在的问题，你所测的数据，需要多准？如果污染碳不符合你的精度，可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准？倒是在实际实验中要注意样品表面分析区内荷电要均匀。如果你不满意的话，你可以email给我一份数据，我帮你看看，报告诉我样品的情况和前期处理条件。[/quote]
那是不是这样？如果不知道污染碳结构，可以通过其他已知的稳定结构来作标准？比如负载性催化剂，可以利用载体的标准峰来做校准反而比C来的准确。
顺便问一下，这个CD wagner的手册哪里有呢？有电子版就好了。[/quote]

是啊！我也在很多文献上看见过他们引用这本书，您有这本书的电子版吗？有的话给我们下载一下！麻烦您了．

大哥您给我的这篇文章在我们学校搜索不到,您能不能给我下载一篇.谢谢啊!

已经发送。

因为家里有点事情最近几天没有来上网,所以今天才看见你给我的email.谢谢您的帮忙!

可以试试！催化剂载体与表面的催化剂荷电很可能不相同，要注意。
Phi的户有此书。或到国图，中科院图书管找到。较普遍。