Element这类单接收SF-ICP-MS，是先磁场后电场 MSA–ESA ，属于 Reverse Nier-Johnson configuration
Neptune这类多接收MC-ICP-MS，是先电场后磁场 ESA–MSA ，属于 Nier-Johnson configuration

前几天有和一个年轻老师问过这个问题

用的是阵列检测器，类似于原来的照相技术，或者相当于一排的检测器。
据说上海已经有了样机了。

我倒是对你怀疑的用意感兴趣，能详细说说么？

pengjh1015(pengjh1015) 发表:楼主的专业水平毋庸置疑，但很怀疑其用意！！！

请问PE,安捷伦有HR-ICP-MS？？怎么只介绍了两种啊

PE Agilent Bruker 都没有HR-ICP-MS。“只介绍了两种”指什么？

谢谢您，学习了。

不错学习了，这种大家伙生产厂家很少。

不错，涨知识了。

应助达人

楼主好文，学习了！谢谢！

Spectro的技术来源于Indiana大学的Hieftje教授的研究组，2001年的时候是第一代技术出来，那个时候是技术可行性的研究还没有到设计细节的优化，你再看看2010年他们写的论文，之后就没有这方面的论文了，因为已经到产业化阶段了，再看看现在Spectro做的产品的水平，你会发现这个技术在突飞猛进。
我们还是要看这个技术的变革，就像现在来看1991年的四极杆质谱的数据，你会发现这也太烂了，但是现在在看四极杆质谱又怎么样哪？
ICP-TOF或者磁聚焦阵列检测器的ICP-MS这种可以做到全元素同时检测的技术应该是光谱质谱类仪器的发展方向，光谱已经基本实现这个转变了，质谱说不定也会走到这一天的，给新技术时间和机会。
2001年论文：
Solyom, D.A., Grøn, O.A., Barnes, J.H., and Hieftje, G.M., Analytical Capabilities of an Inductively Coupled Plasma Mattauch-Herzog Mass Spectrometer. Spectrochim. Acta, Part B, 56(9), 1717-1729, (2001).
2005年第二代设计论文：
469. Schilling, G.D., Andrade, F.J., Barnes IV, J.H., Sperline, R.P., Denton, M.B., Barinaga, C.J., Koppenaal, D.W., and Hieftje, G.M., Characterization of a Second-Generation Focal-Plane Camera Coupled to an Inductively Coupled Plasma Mattauch-Herzog Geometry Mass Spectrograph. Anal. Chem., 78(13), 4319-4325, (2005).
2010年第三代设计论文：
519. Rubinshtein, A.A., Schilling, G.D., Ray, S.J., Sperline, R.P., Denton, M.B., Barinaga, C.J., Koppenaal, D.W., and Hieftje, G.M., Characterization of a Third-Generation Faraday-Strip Array Detector Coupled to a Mattauch-Herzog Geometry Mass Spectrograph with a dc-Glow Discharge Ionization Source. J. Anal. At. Spec., 25, 735-738, (2010).