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  • longwood

    第11楼2010/08/27

    High resolution electron microscopy, John C.H. Spence (第三版)一书第4章 Coherence and Fourier optics 对光源的相干性及透射电镜成像的影响作了介绍。更一般的介绍可以看光学书或傅立叶变换光学书。

    根据Van Cittert-Zernike 理论，空间相干性正比于源空间分布的傅立叶变换，时间相干性正比于源发射波数分布的傅立叶变化。

    最简单理解相干性的方法就是杨氏双缝干涉实验。理想状态是一个点光源发射出单色光到达两个狭缝，两个狭缝作为二次子波源出射的两束波在屏上形成干涉条纹。

    空间相干性指不是点光源，比如扩大成2个光源，每个光源发出的光在屏上各形成一套干涉条纹，且两套条纹的几何位置有一定的平移，当两套干涉条纹强度叠加后，衬度下降了。

    时间相干性相类似。只是理解成仍然只有一个点光源，但是发射出两束波长不同的光，每束光各形成一套干涉条纹，由于波长不同，两套干涉条纹在屏上位置也稍有不同，因此叠加后条纹衬度也下降了。

    一般对普通的相干成像，透射电镜的时间相干性不占主要影响。因为即使以热发射的钨灯丝为例，200KV的枪只有3V左右的能量波动，条纹移动只有10万分之一的距离。

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  • penguinle

    第12楼2010/08/27

    CC和energy filter完全不一样的，EF是过滤左右，而CC类似Cs，delta E是不变的。构造上比EF复杂很多，价格比Cs一些，体积比Cs也大不少

    fly-fall(fly-fall) 发表:楼上说的对，实践中光换灯丝就能折腾死．．．我这只是理论上探讨一下～～～～ＣＣ我了解到的原理上和energy filter是一样的，只不过构造上可能会更简单点吧，毕竟没有eneryg filter那么多的调节功能

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  • fly-fall

    第13楼2010/08/27

    penguinle(penguinle) 发表:CC和energy filter完全不一样的，EF是过滤左右，而CC类似Cs，delta E是不变的。构造上比EF复杂很多，价格比Cs一些，体积比Cs也大不少

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  • fly-fall

    第14楼2010/08/27

    还是不太明白, 请问为什么一定得出衬度下降的结论呢呢? 两束波的叠加会在有的位置造成增幅有的位置造成减幅, ,,并不一定会导致衬度的下降吧? 除非其相位正好相差了180度, 那就是减幅达到最大

    quote]原文由 longwood(templus) 发表:High resolution electron microscopy, John C.H. Spence (第三版)一书第4章 Coherence and Fourier optics 对光源的相干性及透射电镜成像的影响作了介绍。更一般的介绍可以看光学书或傅立叶变换光学书。

    根据Van Cittert-Zernike 理论，空间相干性正比于源空间分布的傅立叶变换，时间相干性正比于源发射波数分布的傅立叶变化。

    最简单理解相干性的方法就是杨氏双缝干涉实验。理想状态是一个点光源发射出单色光到达两个狭缝，两个狭缝作为二次子波源出射的两束波在屏上形成干涉条纹。

    空间相干性指不是点光源，比如扩大成2个光源，每个光源发出的光在屏上各形成一套干涉条纹，且两套条纹的几何位置有一定的平移，当两套干涉条纹强度叠加后，衬度下降了。

    时间相干性相类似。只是理解成仍然只有一个点光源，但是发射出两束波长不同的光，每束光各形成一套干涉条纹，由于波长不同，两套干涉条纹在屏上位置也稍有不同，因此叠加后条纹衬度也下降了。

    一般对普通的相干成像，透射电镜的时间相干性不占主要影响。因为即使以热发射的钨灯丝为例，200KV的枪只有3V左右的能量波动，条纹移动只有10万分之一的距离。[/quote]

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  • longwood

    第15楼2010/08/27

    因为相比较的两种情况，光源发出的总的强度是一样的，可以想象成相当于两束从同一点源（同位相）和两束从分开一段距离发射（有位相差）的光的在屏幕上形成的明暗条纹的衬度，两种情况发射时的总的强度是一致的。

    [/quote]

    fly-fall(fly-fall) 发表:还是不太明白, 请问为什么一定得出衬度下降的结论呢呢? 两束波的叠加会在有的位置造成增幅有的位置造成减幅, ,,并不一定会导致衬度的下降吧? 除非其相位正好相差了180度, 那就是减幅达到最大

    quote]原文由 longwood(templus) 发表:High resolution electron microscopy, John C.H. Spence (第三版)一书第4章 Coherence and Fourier optics 对光源的相干性及透射电镜成像的影响作了介绍。更一般的介绍可以看光学书或傅立叶变换光学书。

    根据Van Cittert-Zernike 理论，空间相干性正比于源空间分布的傅立叶变换，时间相干性正比于源发射波数分布的傅立叶变化。

    最简单理解相干性的方法就是杨氏双缝干涉实验。理想状态是一个点光源发射出单色光到达两个狭缝，两个狭缝作为二次子波源出射的两束波在屏上形成干涉条纹。

    空间相干性指不是点光源，比如扩大成2个光源，每个光源发出的光在屏上各形成一套干涉条纹，且两套条纹的几何位置有一定的平移，当两套干涉条纹强度叠加后，衬度下降了。

    时间相干性相类似。只是理解成仍然只有一个点光源，但是发射出两束波长不同的光，每束光各形成一套干涉条纹，由于波长不同，两套干涉条纹在屏上位置也稍有不同，因此叠加后条纹衬度也下降了。

    一般对普通的相干成像，透射电镜的时间相干性不占主要影响。因为即使以热发射的钨灯丝为例，200KV的枪只有3V左右的能量波动，条纹移动只有10万分之一的距离。

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