看了一下文献，说是只有几层石墨片层的才叫石墨烯，厚了的就是石墨了。石墨烯其实很常见，据说就连写铅笔字留下的碎屑里面就有石墨烯。

晕倒，是我搞混了，这两年落伍了，哈哈。

主要是你们那边没人做这个，如果有人做就很容易知道怎么回事了，不过我也是看了王恩哥的中文综述才了解的清晰一点，这才找到penguinle大侠说的那几篇文献。

我看了那2篇关于通过EELS来判断是否graphene的文章，用EFTEM那个还是需要其中要有单层的才可以，不能只通过图像强度就说有单层了，除非有simulation。看看以后有没有他们的journal paper更详细的说明吧。至于SuperSTEM的，方法确实可以用，但是需要观察plasmon的shift，需要高的能量分辨率（他们的是0.3eV），很少有不用monochrometer的电镜可以达到这个标准的。
通过观察ED的intensity随tilting的变化可能是比较直观的方法，但是也只是适用于大块样品。
没有更简便的方法了？

不需要看等离子峰的位移，SuperSTEM的方法就是计算峰强的比例。EFTEM的做法也是基于峰强的比例。其实这两种方法都不是最实用的。最实用的方法就是多找些点直接采谱，算出相对厚度。多层结构的厚度应该是单层结构的整数倍，找不到整数关系就说明没有没有单层石墨烯。前题是非弹性散射自由程和层数没有关系，或者变化不明显。这个方法信号强度高，采样统计性好，没有厚度计算的一级近似，但是太土气，最后得到就是一条直线，没有照片看起来拉风。潜在的危险是所有采样点层数刚好是2，4，6，8...或者3，6，9，12...，人品这么好，那就没办法了。

拉风？版主在上海待过？嗯，有那么好的人品，的确够买彩票了。那么可以先通过SAED大致确定一个单层区域，再比较？

学习中。。。

你们说的EFTEM的谱是EELS不？

高分辨的话如果没有球差矫正的话可能会比较困难，但是判断层数应该是可能的。选择一个比较合适的低加速电压（80，更低更好，120也可以，不过dose不能过高），较干净的石墨区，在电子束辐照下，会有所谓的layer by layer 的sputtering，基本上会是比较严格的逐层烧蚀，一直烧蚀下去就是一个洞，这样的话，可以从截面判断层数，当然样品太厚会比较费时。Ps. 从edge line来判断层数是比较危险的，因为边缘常常会弯曲。

是EELS的一种应用，得到的是图像不是能量谱。早期的谱仪做不了这个。

这个方法比较好玩。