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  • 天黑请闭眼

    第11楼2010/09/23

    您觉得怎么不对了呢？朋友的老师还给出了具体的示意图呢，想来他老师也是电镜行里混迹多年，这点问题应该不会弄错。当然，精度可能的确不高，但他需要的数据也不需要这么精确。

    sendtony6(sendtony6) 发表:量試片厚度不是這樣量的...

    看到快昏倒...

    量試片厚度可以用計算thickness fringes

    或是 CBED , EELS等方式去計算~

    絕對不是你朋友說的那樣~

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  • 天黑请闭眼

    第12楼2010/09/23

    嗯，同意楼上几位的说法，EDS mode的电子束流在局部可以很强的。

    sendtony6(sendtony6) 发表:此外~EDS mode是analysis mode

    電子束本來就非常弱...

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  • 天黑请闭眼

    第13楼2010/09/23

    好的，多谢老大，我去看看书，看看自己是不是哪里做的有问题。

    蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:不同的测量方法有不同的精度和适用范围，使用时也需要知道一些必要的参数。很多时候只需要对厚度做粗略估算，不需要得到很精确的数值，或者其它方法需要的出参数无法得到。关于用污染斑的方法，可以参考David Williams的书第一版629页，或者第二版670页。拿掉所有光阑直接轰击是做Beam Shower方法，这样得不到污染斑，反而可能越轰越干净。EDS模式是聚焦束，会损失一部分束流，但是光斑很小，所以束流密度反而比普通模式大。

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  • sendtony6

    第14楼2010/09/23

    beam shower是否越打越乾淨...可能要看試片而定~

    小弟孤陋寡文了...不過書上似乎是在STEM mode下做的~

    在EDS下~能有相同效果嗎?

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  • sendtony6

    第15楼2010/09/23

    小弟~孤陋寡文了~

    不過書上使用此法~似乎是在STEM模式下~

    好像不是在EDS模式下~

    (不過此法~書上亦嫌粗糙了些...)


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  • penguinle

    第16楼2010/09/24

    STEM是什么模式，EDS又是什么模式？

    sendtony6(sendtony6) 发表:小弟~孤陋寡文了~

    不過書上使用此法~似乎是在STEM模式下~

    好像不是在EDS模式下~

    (不過此法~書上亦嫌粗糙了些...)

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  • 天黑请闭眼

    第17楼2010/09/24

    书上介绍的第一句说了，这是在老式的(S)TEM上常用的方式之一，介绍的最后也说到额外的污染会模糊化你刻意造出的污染斑。方法的用意应该就不是很精确的评价，不过就是简单判断一下。

    sendtony6(sendtony6) 发表:小弟~孤陋寡文了~

    不過書上使用此法~似乎是在STEM模式下~

    好像不是在EDS模式下~

    (不過此法~書上亦嫌粗糙了些...)

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  • 天黑请闭眼

    第18楼2010/09/24

    书上并没有讲造污染斑的模式，用EDS大概是因为局域电流密度够大，或者EDS的束斑较小吧。

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  • sendtony6

    第19楼2010/09/24

    是沒錯~

    不過照片是STEM的照片~~

    這...就參考一下吧~

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  • 黑洞

    第20楼2010/09/25

    STEM 和 EDS 的光路模式是非常接近的。使用过STEM的都有这方面的经验，就是样品比在TEM下污染的要快的多。这是因为单位面积上的束流密度要大得多，所以用EDS模式来的到污染斑是对的。

    sendtony6(sendtony6) 发表:是沒錯~

    不過照片是STEM的照片~~

    這...就參考一下吧~

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