scan3下的图片 不仅不清楚 还一片白(与上一张图片 同样条件，不过扫描方式变了)

yxdjn@sohu.com
我们这里封着qq

给您发邮件了，您的图片都没有在网上显示出来，咱们网上说吧。

这恐怕不是灯丝本身的问题，使用时LC值 多少？BIAS值多少？抽真空时，从PRE EVAC到EVAC时间 多少，1分2多钟是通常的状况，样品被电子束轰击后会分解并产生气体吗？我的话，会从高压和真空这两个方面下手。

我是从盘上 直接发的
当时更新还可以的
难道必须要用附件？
不能直接贴地址？

这个每个灯丝帽LC.是不一样的，像现在在用的就54~52左右、从PRE EVAC到EVAC时间一分钟左右吧 样品被电子束轰击后会分解并产生气体这个好像木有关注过哦，我们用的型号是JEOL6360 BIAS值是：146、145 灯丝的话就前半年用的好不错的，好像都是到后半年的很容易断，就想不明白为什么了!

电镜好点了
不过eDS还是那样
获得的counts数太低
含量低的元素几乎没法分析
下面是分析图和参数的设定maxin帮忙看下

因为我看不到图片，所以只能大胆猜测，您拍的不是ZnO标样吧？而是自己的样品，自己的样品如果不导电可能就这样，因为您有说过：sem图像不太好，而EDS采图还可以，诚如您所言的话，那就可以排除EOS单元合轴之类的问题，因为EDS采图也是经由SEI探头完成的，那么，SEI探头单元也应该没问题，这也都是初步判断。SEI图像和EDS图像唯一区别在于SEI 通过FIS PB控制扫描，图像信号经由FIS PB 输入到视频采集卡，最后上显示器，而EDS采图是由ESITF PB 控制扫描，图像信号经由ESITF PB 输送到EDS图像单元，最后上上显示器的。一般情况下，上述单元不会轻易损坏，我们排错也是本着由易到难的原则进行。有两件事需要您做一下，看看BEI图像好不好，样品如果不导电 就喷喷 金试试。这是我目前的思路，因为看不到图像，所以我猜这不是标样，分析若不准经见谅。收到我邮件了吗？给我发来QQ啊，呵呵。咱们可以QQ语音，或者传文件。

sddjn(sddjn) 发表:电镜好点了
不过eDS还是那样
获得的counts数太低
含量低的元素几乎没法分析
下面是分析图和参数的设定maxin帮忙看下

我指的是：SEM图像一片白，在合适的束斑直径和工作距离下，EDS 的计数率低下，由于荷电效应导致电子束无法射到样品内部，而样品的X-RAY是有样品内部很深层激发而出的，所以计数率低下，死时间低下，说白了就是由样品荷电效应导致的电子束能量不足。

sddjn(sddjn) 发表:电镜好点了
不过eDS还是那样
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含量低的元素几乎没法分析
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