第23楼2006/06/07
如果有需要,可以联系下我。
E-mail:yingfangxun@163.com
QQ:49236295
Fax:075526526219
在国产和国外产品方面,个人认为,国内有个别产品在精确性和稳定性、安全性上已经达到国外的没有什么差别。特别是,因为此类仪器的生产批量都不大,所以任何一家仪器生产商的生产过程是半手工的,在生产工艺上没有什么差别;因此质量水平上没有多磊差别。但国外的产品价格比国产仪器高很多,并不是因为他们的技术水平多高,而是因为他们的劳动力成本比中国高很多,而且国外仪器公司的利润预期也比中国的仪器生产企业高很多,还有国外产品进入中国市场时大量的中间费用。
另外,X荧光分析仪器技术复杂,仪器的日常维护维修也是必不可少的,国外产品的维护维修是国产仪器的几倍甚至十几倍,而最主要的是,维修周期很长,会给您正常使用带来很大的障碍。
而且,如果认为进口仪器故障率低,即使购买成本高,但使用起来比较省心,这种观点是错误的;按照目前的统计来看,进口仪器故障率并不比国产的故障率低。
所以,中国的用户如果一味追求国外产品,可能只是花费大量的额外金钱,却没有一定可以买到更好的产品。
第25楼2006/06/15
不管是进口还是国产,主要看测试性能。
国家科技部九五科技攻关项目。世界首创,可以直接测试六价铬!各项性能指标均已达到国际同类产品水平。
本公司现对外开展免费样品测试业务,测试报告可以与SGS实验室数据相比较,数据基本接近。客户如有需要可联系销售曹文杰经理,电话:13537709370 jenscwj@126.com
分析原理 能量色散X射线荧光分析法
分析元素 Na ~U任意元素
检出下限(Cd/Pd) Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb ≦5 ppm
样品形状 任意大小,任意不规则形状
样品类型 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
X射线管 靶材 Mo
管电压 5~50 kV
管电流 最大1~1000 μA
照射直径 2、5、8mm自动转换
探测器 Si(PIN)半导体高分辨率探测器
滤光片 八种新型滤光片自动选择
样品定位 微动载物平台(选配)
样品观察 30倍彩色CCD摄像机
微区分析 X光聚焦微区分析系统(选配)
软件 定量分析:α系数法 WINDOWS XP
数据处理 主机 PC机
内存 256 MB 以上
硬盘 40 GB 以上
OS Windows XP
工作环境 温度 10~35 ℃
湿度 30~70%R H
電源 AC 220 V±10 %、50/60 Hz
功率 1.1kW
重量 40Kg
外形尺寸 610(W)×750(D)×500(H)mm
曹文杰 销售部区域经理 业务电话:13537709370 电子信箱: jenscwj@126.com
总公司地址:深圳市华强北振华路55号工艺大厦510
沙井办事处:深圳市宝安区沙井镇沙堂路22号
第26楼2006/06/18
1、 可以执行周期表从钠到铀元素的非破坏分析,含量从1ppm至100%,而样品的制备非常简单、低廉、迅速;
2、 它是基于Si-PIN技术的探测器结合了高效的高分辨率。探测器是热电冷却,消除了其它品牌需要液态氮冷却等一些消耗成本和不便;
3、 直接生成人性化分析报告;
4、 全封闭铅板双迷宫防辐措施;
5、 全球领先的微区分析功能,采用聚焦X射线照射,光路系统采用正置式,可以大气压力或低真空环境下对微区及整体成分的定性定量分析,以及线、面元素的分布分析,检测极限为ppm级;
6、 直接检测六价铬(Cr6+),运用本公司开发的专用软件和独特的硬件技术,无须添加任何其他仪器,即可对六价铬进行精确分析,大大节约成本;
7、 大型样品室的高计可轻松放置大型样品而不须破坏样品,直正实现无损检测;
8、 新型滤光片自动切换;
9、 全球领先的α系数定量技术,中国科学界三十年科研成果;同时配置基本参数数定量软件利用理论强度与参与标样的测量强度相关得到重要的仪器参数作为计算的基础;
连续重复测量统计21次(即95%的置信度)。
分析范围:ppm~99.99%
测量元素:Na至U
测量对象:固体、液体、粉末、塑料、金属
分辨率:150+-10ev
单次测量时间:60-180S
工作温度:15~30度
工作湿度:≤70%
电源:AC220V
配置:1、Si-PIN半导体高分辨率探测器;2、八种新型滤光片自动选择;3、50X彩色CCD摄像机;4、电脑、打印机
体积:610(W)*750(D)*500(H)mm
重量:60KG
国家科技部九五科技攻关项目。世界首创,可以直接测试六价铬!各项性能指标均已达到国际同类产品水平。
曹文杰 销售部区域经理 业务电话:13537709370 电子信箱: jenscwj@126.com
公司地址:深圳市华强北振华路55号工艺大厦510