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  • 第21楼2007/01/08

    TEM成像：照明平行束、成像相干性、结果同时性、衬度随样品厚度和欠焦量发生反转。由于所收集到散射界面上更多的透过电子，像的衬度更好！
    STEM成像：照明会聚束、成像非相干、结果累加性，在完全非相干接收情况下像的衬度不随样品厚度和欠焦量反转，可对更厚一点的样品成像。

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  • 第22楼2007/04/10

    这个差别太大了吧？像的解释就不一样！

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  • 第23楼2007/04/10

    请问作EDS时，是旋转X还是Y？

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  • 第24楼2007/04/10

    在JEOL上叫X，在FEI上叫alpha。无论叫什么，都是使样品朝向能谱探测器倾斜。

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  • 第25楼2008/01/24

    如果你要精确计算还是要转的。

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  • 第26楼2008/01/24

    shxie 发表:说到这里，你们的UHR需要倾转样品台做EDS吗？

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  • 第27楼2008/02/01

    High Angle Annular Dark Field STEM (HAADF STEM)

    通常我们提到STEM都是指HAADF STEM. 很多人简称ADF STEM. 这里面的high angle其实是很重要的。因为high angle scattered 的电子忘记了相位，所以最后得到信号是incoherent叠加的。low angle的electron会引入diffraction contrast, 在通常情况下，使用ADF STEM是希望Z-Contrast(记住，incoherent叠加是z-contrast的前提条件)，那么diffraction contrast就会引入artifact. STEM和TEM相比最大的好处就是基本没有artifact，这个对于看boundary的时候至关重要。

    另外，如果引入bright field detector，那么我们就有bright field STEM，这个相当于fake BF TEM.

    另外就是我们组发明的Incoherent bright field STEM. 这个对于做非常厚的金属材料的electron tomography非常重要。



    liutw30 发表:TEM和STEM图像在相同的倍率下有什么差别？如何实现在F20 TEM模式下进行EDS分析？

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  • 第29楼2011/08/11

    真的受益匪浅！对自己这种不是操作的，仅仅利用这个手段来检测的，学到了被你们内行认为是常识的东西。

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  • 第30楼2011/08/15

    应助达人

    看文字讲得这么透彻, 一看用户名, 这人就是那个发Review的牛人啊~~~

    xinhuolin(xinhuolin) 发表:High Angle Annular Dark Field STEM (HAADF STEM)

    通常我们提到STEM都是指HAADF STEM. 很多人简称ADF STEM. 这里面的high angle其实是很重要的。因为high angle scattered 的电子忘记了相位，所以最后得到信号是incoherent叠加的。low angle的electron会引入diffraction contrast, 在通常情况下，使用ADF STEM是希望Z-Contrast(记住，incoherent叠加是z-contrast的前提条件)，那么diffraction contrast就会引入artifact. STEM和TEM相比最大的好处就是基本没有artifact，这个对于看boundary的时候至关重要。

    另外，如果引入bright field detector，那么我们就有bright field STEM，这个相当于fake BF TEM.

    另外就是我们组发明的Incoherent bright field STEM. 这个对于做非常厚的金属材料的electron tomography非常重要。

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