popo
第11楼2011/02/03
P在光谱上如果用213的谱线不需要吹扫就完全可以检测。在光谱上,P可以做到几十个ppb没有问题对于半导体行业,如果能用ICP测定P的,坚决不用MS。
chenchen1
第12楼2011/02/07
楼上的你说的是在溶液中还 是固体中几十个ppb啊?含有Si的时候本底也很高啊,几十ppb 峰都不明显
光哥
第13楼2011/02/14
猜测一下,LZ的样品可是三氯氢硅??实在处理不了,就等国标参考呗。快出来了。或者你直接问问新光/中硅那些人的,他们应该更清楚。
wshfly
第14楼2011/02/14
我们做三氯氢硅中的P,之前因为SiF的影响,P的值一直不好控制,现在掌握了规律,P的值趋于稳定