个人认为α1下的合轴无需做到精益求精，只要在α1下能找到电子束把电子束会聚到样品上（类似于EDS点分析），即可。
其实样品比较关键，毕竟NBD模式是电子束会聚模式，虽然不如TEM会聚时强，单对样品损伤还是比较大的，NBD时我一般做法是会聚得到花样，然后转到IMAGE模式踩带轴（与TEM模式选区衍射一样）然后稍微移动电子束得到正的NBD花样，这样对样品的损伤小些。类外NBD花样比较弱CCD成像时比较烦。

明白了，不过这么多年，有些变态，总觉得弄个歪歪扭扭的轴去做实验有点那个啥，呵呵。