+关注 私聊

  • XRF_INFO

    第11楼2011/04/10

    你的Si含量50-60%，你想做到极差多大？当然也可以把Si的测量时间再延长点。

    sangni(sangni) 发表:不是呀，我们主要是要把SiO2能做的很精确，可熔片法的误差都是比较大的了，想做的更精确些，有没有其他方法？

0
    +关注 私聊

  • 金水楼台先得月

    第12楼2011/04/10

    [div][/div]

    你的Si含量50-60%，你想做到极差多大？当然也可以把Si的测量时间再延长点。[/quot

    我后来觉的Si误差大，主要原因可能还是前期熔片，测定影响稍微少点。不知道大家怎么想的。

0
    +关注 私聊

  • bennaiyou

    第13楼2011/04/16

    XRF测定主量元素SiO2很准确的，是不是你的坩埚或者预先处理出现问题了。

0
    +关注 私聊

  • 云☆飘☆逸

    第14楼2011/04/16

    应助达人

    硅，有的时候偏差大点。

0
    +关注 私聊

  • 金水楼台先得月

    第15楼2011/04/17

    知道是什么原因吗。

    云飘西风落(denx5201314) 发表:硅，有的时候偏差大点。

0
    +关注 私聊

  • xp1980

    第16楼2011/05/04

    前期处理的时候，不知道你的熔样温度多少，如果低的话，可能导致样品熔样不完全，熔片不均匀。同时时间长点，

0
    +关注 私聊

  • 金水楼台先得月

    第17楼2011/05/04

    你使用的温度是多少？

    xp1980(xp1980) 发表:前期处理的时候，不知道你的熔样温度多少，如果低的话，可能导致样品熔样不完全，熔片不均匀。同时时间长点，

0
    +关注 私聊

  • XRF_INFO

    第18楼2011/05/04

    如果熔片法测量Si，首先样品粒度肯定要能过200目的筛，105度烘2个小时，熔样温度要看具体的样品了。时间可以略微延长点，影响不是很大。当然Si的误差是比较大的一个，相对来说。

0
    +关注 私聊

  • 金水楼台先得月

    第19楼2011/05/04

    按照DZ/T2006质量管理规范，Si经常会超差的。

0