应助达人

好像tutm老师没有推测图谱是逐渐爬坡的趋势吧？他指的是一个峰值的左右的两个坡，而不是搂住扫描得出的缓慢的逐渐的上升坡吧？

应助达人

恕我愚钝，没有看懂tutm老师的解释。

呵呵，可能我的表达不清楚，就写个结论吧：不管是吸光度还是透光率，如果测试波段相应的光谱曲线是上凸的，减小狭缝会导致测试值上升；如果测试波段光谱曲线下凹，则减小狭缝会使测试值下降。这个情况在曲线的“坡”上都是如此，只有在曲线拐点上，测试值才基本上不受有限变化的狭缝宽度影响。

这么强啊。

那我是不是搞点他们的样品，就可以直接测光度准确度。

日资的，按道理质控应该不错。

悠扬兄不是波长准确度和光度准确度都检查了吗？

实在不行再来个杂散光检定...

呵呵，那就不用质量局的来了.....

仪器检定都能过.,....他们应该懂的.

这样都不行，要不样品，要不升级仪器吧。

仪器经过维修后，这样测透过率有时候是不一样的。

我就遇到过好多次，这样测不行，但是标准曲线法是能过的。

光度准确度很难修。

光度准确度在一个国外分光说明书上见过说明，有光路偏离中心轴的原因...看到这点我就泄气了，这我咋弄。

我的理解，在最大吸收波长附近（灵敏度变化处）波长点刚好处于上升陡线的中间部分，减少带宽会导致吸光度上升，同时透光率上升，是因为样品光相对杂散光能量比例上样品光变高而透光率增高，同时灵敏度（分辨率）增高吸光度增高，与狭缝越大吸光度越低，那么透过率越高不矛盾。

有些样品，狭缝大的话，应该是吸光度值小，透过率高啊，你这个正好是反着的啊。

光谱扫描最后的谱图可以看做是两个信号函数卷积的结果，其中被测样品真是光谱是输入信号，光谱带宽（以狭缝宽度调节）就是窗函数，最后的图谱就是这两个函数卷积的结果。从信号理论可知，只要加了窗函数，最后的结果总是被“展宽”的，因为窗函数截断了完整的信号。至于展宽的大小，则取决于窗的宽度，或者说是什么类型的窗函数（常见作为滤波的有汉明窗、海宁窗等）。窗展宽了信号，信号的强度就会比原始信号低。这就解释了为什么狭缝越窄峰越高（谷越深）。在实际情况中这也有限制，狭缝越小信噪比越小，当狭缝太小时峰或谷的变化淹没在噪声里，看不出来了。
这个例子提醒我们，研究或开发新的分析方法时，一定要注意光谱带宽的选择，在确保信噪比的情况下，尽量选择较窄的狭缝，才能更准确还原原始的信号。