Si(Li)探测器是检测X-光子的，入射X光子能激发硅原子产生硅的K 系射线,但随即又被探测器吸收（检测到），这样母蜂不会损失能量。 如果该X射线未被再吸收而逸出探测器, 测到的原光子净能量将会减掉硅X-射线能量, 在比母峰低1.74kev处出现一个峰.(比母峰低1.74Kev)。称作该元素的逃逸峰。
如果入射X射线的能量小于激发硅X-射线的能量,就没有逸出峰产生. 因此铝不出现逸出峰,原子序数比Si大才有可能产生逸出峰。

应助达人

如果进入硅探测器的一个X光子激发硅原子，硅原子发射一个硅的特征X射线（Ka＝1.74keV），并可能离开探测器。如果这样，储存在探测器中的能量就要减少，结果是附加了一个小峰，被称为逃逸峰。
例如，Fe的逃逸峰在4.66keV（＝6.40－1.74keV）。

逃逸峰的高度一般小于母峰的1％。因此，如果不是高含量的元素，并且在谱图上形成大峰的话，其逃逸峰的影响可以忽略。意思是说，低含量的元素虽然也有产生逃逸峰的几率，但是其逃逸峰基本被淹没在背景中，不用考虑。这也可能是你为什么在实际操作中很难注意到逃逸峰存在的原因。
楼主Flyfog说的很清楚，他测试的是纯铜的样品，铜自身的发光能力比较强，会形成大峰，就需要考虑其逃逸峰。

多半原因是能谱仪前段的探头窗口污染了！

因为铁，碳等元素长期积累在能谱窗口，导致元素分析时不管是什么样品都有同样的窗口污染物的元素打出来。

解决问题可以参考置顶帖子：如果摆脱污染物

楼主说了，用丙酮清洗样品后就没有Fe元素了。

应助达人

lich没仔细看，光顾着推销了