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zbb1982
第15楼2011/09/02
有一个问题想问一下楼主，全反射在测试固体样品和液体样品时，需要做前处理么，另外对样品的放置位置有没有要求。一般前处理有什么要求？
291943731q(291943731q) 发表:转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章
全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。
1. TXRF分析仪工作原理：
TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。
测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算：
(2)
这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。
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zbb1982
第18楼2011/10/21
另外能将你发的仪器图片的资料发给我看看么？因为现在全反射好象很少用，不知道到底能不能用于普通的测试。油箱：zbb19820308@163.com
291943731q(291943731q) 发表:固体样本为熔融表面光滑，均一，样品本身理论可以做反射体，全反射临界角位置，不同材质全反射角不同。
粉末样品150-200目，由于颗粒效应达不到全反射，要么熔融要么溶解成液体。可以直接测粉末，集体效应大幅低于通常的X射线荧光装置。
水液体滴在载片上，中心位置固定，烘干即可测。
以上大体方法，各种材料不同根据结果细微调整，有待研究处理。
需要说明的是反射体（载片）是高纯度，机械强度大。性质稳定，高平整度。是仪器的重要关键部分。