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  • 老虎呦

    第11楼2011/05/17

    新事物,待检验

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  • 金水楼台先得月

    第12楼2011/05/17

    只有达到两者统一的,才能走的更远。

    老兵(wangliqian) 发表:现在需要的不是王婆卖瓜,停留在广告宣传上。
    是骡子是马就不能拉出来遛遛吗?

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  • 金水楼台先得月

    第13楼2011/05/17

    我也期待中呢,如何作到全反射。

    291943731q(291943731q) 发表:新事物,待检验

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  • 老虎呦

    第14楼2011/08/26

    反射体是关键,一般是石英载片,反射面一般为高精密度:λ/20,飞秒级,表面质量 :20-10 ,(OFSQ),平行度小于2分。看上去只是个小玻璃片,比金子贵。

    金水楼台先得月(albert800922) 发表:我也期待中呢,如何作到全反射。

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  • zbb1982

    第15楼2011/09/02

    有一个问题想问一下楼主,全反射在测试固体样品和液体样品时,需要做前处理么,另外对样品的放置位置有没有要求。一般前处理有什么要求?

    291943731q(291943731q) 发表:转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章

    全反射
    X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pgng/mL 级以下)、用样量少(Μlng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MSGDMS原子吸收谱仪中的ETAASEAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。


    1. TXRF分析仪工作原理:

    TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRFWXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。

    测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算:

    (2)

    这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

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  • 老虎呦

    第16楼2011/09/09

    固体样本为熔融表面光滑,均一,样品本身理论可以做反射体,全反射临界角位置,不同材质全反射角不同。

    粉末样品150-200目,由于颗粒效应达不到全反射,要么熔融要么溶解成液体。可以直接测粉末,集体效应大幅低于通常的X射线荧光装置。

    水液体滴在载片上,中心位置固定,烘干即可测。

    以上大体方法,各种材料不同根据结果细微调整,有待研究处理。

    需要说明的是反射体(载片)是高纯度,机械强度大。性质稳定,高平整度。是仪器的重要关键部分。

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  • zbb1982

    第17楼2011/10/21

    那么我测试固体样品是不同的表面粗糙度,对测试结果有影响么?

    291943731q(291943731q) 发表:固体样本为熔融表面光滑,均一,样品本身理论可以做反射体,全反射临界角位置,不同材质全反射角不同。

    粉末样品150-200目,由于颗粒效应达不到全反射,要么熔融要么溶解成液体。可以直接测粉末,集体效应大幅低于通常的X射线荧光装置。

    水液体滴在载片上,中心位置固定,烘干即可测。

    以上大体方法,各种材料不同根据结果细微调整,有待研究处理。

    需要说明的是反射体(载片)是高纯度,机械强度大。性质稳定,高平整度。是仪器的重要关键部分。

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  • zbb1982

    第18楼2011/10/21

    另外能将你发的仪器图片的资料发给我看看么?因为现在全反射好象很少用,不知道到底能不能用于普通的测试。油箱:zbb19820308@163.com

    291943731q(291943731q) 发表:固体样本为熔融表面光滑,均一,样品本身理论可以做反射体,全反射临界角位置,不同材质全反射角不同。

    粉末样品150-200目,由于颗粒效应达不到全反射,要么熔融要么溶解成液体。可以直接测粉末,集体效应大幅低于通常的X射线荧光装置。

    水液体滴在载片上,中心位置固定,烘干即可测。

    以上大体方法,各种材料不同根据结果细微调整,有待研究处理。

    需要说明的是反射体(载片)是高纯度,机械强度大。性质稳定,高平整度。是仪器的重要关键部分。

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  • 老虎呦

    第19楼2011/10/21

    粗糙表面不具备全反射条件

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  • 老虎呦

    第20楼2011/10/21

    发个资料不知违规不

    291943731q(291943731q) 发表:粗糙表面不具备全反射条件,当粉末测。另外仪器测量室较小,只能用专用载片测量可烘干液体和150-200目粉末。

    液体测量可以反复烘干再滴加,浓缩测量。

    很多应用也在测试中。有待进一步探讨检验。

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