感谢您的详细叙述。有几个问题能讲细一点吗？

1. 您所说激发光的散射光强度如何测得的？ 比如400nm激发的发射光谱，是不是峰值在400的那一个峰就是散射光的峰？

2.氧化铝测定激发光的强度如何做？把氧化铝放矩形盒做发射光谱？氧化铝测激发光散射光强度如何测呢？

1,积分球两个孔都放氧化铝，注意是放在比色皿里面，然后氧化铝填的时候要结实点。然后用400激发，比如380到500扫描发射。这样400的那个峰的面积可以看成是激发光强度A。
，然后换上样品，注意样品在比色皿里面要尽可能的多，也要结实，否则会漏光。扫描后出来的发射谱，400的峰面积是B，样品的发射光谱峰面积是C
这样量子效率就是C/(A-B)
另外，按照手册，再去测定间接激发的量子效率

非常感谢解答，理论算弄清楚了，实际操作上还有点问题，继续请教。

1. 积分球两个孔都用氧化铝测的是激发光强度，那么换样品扫发射谱的时候，积分球两个孔分别放的是什么？一个氧化铝一个样品？

2.仪器应该测的是相对量子效率，第一次测的是标准物质，那么积分球两个孔应该分别放什么呢？第二次测样品，又该怎样放？

其实是不明白氧化铝会不会吸收，会不会发光，照推断应该是既不吸收也不发光的才对。所以，如果我的试样为膜，可以用氧化铝圆片和膜一起盖住一个积分球的口进行测量，不知道这么理解对不对？

我们那个仪器有两种板，一种是圆形纯的白板，一种是圆形白板后面加了个盖子的，具体两种板是什么东西都不知道，说明书上也没有。
氧化铝粉末是另外装一个罐子的，装粉末的比色皿也有。

还有相对法测荧光量子效率，不是应该知道标准物的效率吗？但是说明书里没有提到那是什么物质，那么仪器又怎么能够自动计算量子效率？迷惑得很。

相对法测定的时候才是需要相对标准物质的，主要用来测定液体类样品或者溶解后的。
积分球是用来测定绝对量子效率的。
另外，官方解释，日立的这个积分球附件仅能用来测量固体粉末类样品的量子效率，还有不能透光的块状，片状固体。至于薄膜，我不能肯定的回答你是否可以。
随仪器有一个标准白板，就是有个黑屁股的，这个是某种特氟龙吧，有一个信封里面列出的不同波长下的反射率。
还有一个白板是硫酸钡白板，用来堵住积分球的左侧和前侧的孔的
还有是氧化铝粉末，用来装在比色皿中作为与样品的对比的。

1，测定激发光强度，此时左侧白板，外侧氧化铝比色皿
2，测定发射光，左侧白板，外侧薄膜后用白板（我不知道你薄膜多厚，可能会漏光，这样就不准了）
3，测定间接激发光强度，左侧氧化铝比色皿，外侧白板
4，测定间接发射，左侧薄膜，外侧白板

完成后把结果分别倒入到软件里分别计算直接的量子效率与间接的，然后手动计算出绝对量子效率(小日本太偷懒的，前面软件都搞好了，最后一步居然要手算，太有才了）
另外，如果发射谱与倍频有干扰还需要用滤光片。这个有单独的计算方式

非常感谢，您解释得非常详细。今天看到附录才知道固体荧光量子效率用的是绝对法。它的原理是先通过散射光确定激发光的强度，然后放样品，同时测散射光和荧光。散射光减弱的部分为吸收，荧光除以吸收即为量子效率。道理虽简单但是需要对积分球校正。关于积分球校正与测量还想跟您确认一下。

把问题归纳一下大概是这么几个？
1. 黑色屁股的白板起什么作用，它在指定波长下有确定的反射率但并不知道它的具体作用，特别是在积分球校正中用它的作用（见末尾积分球校正步骤）
2. 氧化铝，硫酸钡，黑色屁股的白板，分别有没有吸收，有没有荧光？
3. 和第2个问题相关，在校正或测量的部分，氧化铝＋比色皿这样的设置能不能用硫酸钡白板或黑屁股白板代替？
比如说校正无样品积分球特性时，将前侧换成硫酸钡白板，是否影响测量结果？

手册上是这么写的
1. 积分球校正
积分球无样品下：左侧白板 前侧reference reflectance material＋比色皿（这个应该是氧化铝？）
积分球有样品下：左侧白板 前侧standard reflectance （带黑屁股的白板） 弄不明白这步和最后的样品测量有什么关系，呵呵。

2.样品测量部分
积分球无样品下：左侧白板 前侧reference reflectance material＋比色皿
积分球有样品下：左侧白板 前侧 样品＋比色皿

黑屁股的是标准白板，软件本身已经记录了其各波长下的反射率（当然这个还可以到软件里面去修改，具体怎么就忘记了）。在校正的时候，有样品的情况下就是用标准白板来代替样品测定其余氧化铝各波长的反射率不同。
那三个都没有吸收都没有荧光，理论上是100%反射的，但是实际可能会有一点点的误差。
不能代替的，因为前面积分球校正的时候是计算的标准白板与氧化铝比色皿之间的反射率系数，换了就一样了。而且你粉末样品是安装在比色皿中，所以用氧化铝来做间接的参比。

[quote]原文由 jixf_1114(jixf_1114) 发表:黑屁股的是标准白板，软件本身已经记录了其各波长下的反射率（当然这个还可以到软件里面去修改，具体怎么就忘记了）。在校正的时候，有样品的情况......quote]

感谢解答，最后跟您请教关于如何测片状试样效率的问题。也就是如果做片状试样，如何在粉末试样的基础上进行修改，加粗蓝色部分是测粉末试样的过程，测片状试样应如何修正，请指教。

1. 积分球校正
积分球无样品下：左侧白板 前侧白板（代替氧化铝） 前侧reference reflectance material＋比色皿（这个应该是氧化铝？）
积分球有样品下：左侧白板 前侧standard reflectance 前侧standard reflectance （带黑屁股的白板）
2. 样品测量部分
积分球无样品下：左侧白板 前侧白板（代替氧化铝） 前侧reference reflectance material＋比色皿
积分球有样品下：左侧白板 前侧样品薄膜＋白板 前侧 样品＋比色皿

氧化铝粉末是用来代表空白条件下的数据的。

我是初学者，最近要测量发光玻璃的量子效率，原理是和荧光的测量方法一样吗？原理呢？请大家帮忙