我们单位也正计划购买一台

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EDXRF是可以对矿石样品进行品味计算，但是前提是有一定的标准样品。正如IEC-62321所说如果标准样品与测试样品足够接近的时候我们的测试准确度就应该足够高。

请问 lj919专家
品位计算一般要求的误差比较严格，那么在标样不是很全的情况下，这可不可以理解为EDXRF今后在这方面应用的一个短板呢。

荧光仪一般是单独的一台仪器，不过一些新款仪器可以把XRF和XRD做在一台仪器里。

半导体探测器在很大程度上决定着EDXRF的性能，能否详细介绍下这方面的知识以及国内外相关研究现状？

买哪方面的，什么型号的呢

好久没来这里了，我简约的回答一下这个问题，给楼主减点工作量哈，有不足的请补充。

检测器应不同功能要求，有比例计算管、晶体闪烁计算器，不过此类的应用于元素分析分辨率不足，常用于EDXRF的主要有Si-PIN Si-Li　高纯硅　高纯锗等，其中分辨率最好的是后两类,但价格昂贵,Si-Li检测器需要液氮冷却,使用稍显不便,目前中低端仪器使用Si-PIN的较多,将来应该会朝高纯硅转化,改用此检测器不仅可以提高分辨率也可以提高计数率,因此,可以做元素分析也可做膜厚测量。

呵呵 看看 学学啊

谢谢分享！收下了！呵呵

能给我们讲讲这方面的技术吗。

我来讲讲我所知道的，能散与波散合用的我没接触过，但XRF目前新型仪器不仅可以实现面扫描元素制图功能，也有部分型号仪器可以与光学仪器合用，对微小区域做元素分析，例如应用于锂电池行业，该类型仪器除了柜式结构外还有可应用于生产线的卷轴式。