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  • 金水楼台先得月

    第11楼2011/09/08

    你的样品，为什么需要做微区分析呢，不可以采取熔片的方法吗。

    cwyksls(cwyksls) 发表:我想确认产品某一点、微区（如1mm2）的元素含量，不知如何做，请BY赐教。谢谢！

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  • 金水楼台先得月

    第12楼2011/09/08

    电子扫描显微镜应该不行！

    cwyksls(cwyksls) 发表:但是国内的最小是6mm（帕纳科）。
    电子扫描显微镜是不是能做到？

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  • loaferfdu

    第14楼2011/09/13

    应助达人

    你说的是堀场的机器吧，这个就是使用光纤全反射，光纤孔径逐渐缩小，最后射出端1.2mm
    X射线在电场中也不转，磁场中也不转，要想使他聚焦，除了这个光纤聚焦全反射，好像目前没有别的技术了。

    kevinw(kevinw) 发表:对不住刚才少写了一个不，我是想说，具体采用什么技术做到1.2mm，我还不是很清楚，如果有知道的朋友，请与大家分享。多谢！

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  • loaferfdu

    第15楼2011/09/13

    应助达人

    1mm区域内的Sn、Zr好办，S、Na、Al、Si就有点麻烦，应为这几个元素属于轻元素，荧光产额低，发光弱，而且特征能量小，穿透能力也弱，测试难度比较大。不过尚可一试。
    提两条建议：
    1. 使用带真空的EDXRF设备，或者直接WDXRF分析一下看看，WDXRF的功率大，分辨率高，可以提供更好的检出下限。
    2. 尝试使用电镜上的能谱，SEM-EDS，分析区域可以小到um量级，不过这个只能定性，定量的结果不太靠谱，特别容易受到二氧化碳的沾污。

    cwyksls(cwyksls) 发表:我也不算专业，只是略知一二。通常构成缺陷的元素有锡、锆、硫、钠、铝、硅等，含量范围（由于缺陷占测试面的大小不定）不好确定。

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  • cwyksls

    第16楼2011/09/14

    Deepest gratitude goes to all of u.

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  • cheng_hc0032

    第17楼2011/09/15

    应该是Horiba公司的XGT,最小可以做到0.01mm的光斑,测量元素可以从Na开始,可以考虑下.

    loaferfdu(loaferfdu) 发表:你说的是堀场的机器吧，这个就是使用光纤全反射，光纤孔径逐渐缩小，最后射出端1.2mm
    X射线在电场中也不转，磁场中也不转，要想使他聚焦，除了这个光纤聚焦全反射，好像目前没有别的技术了。

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  • 金水楼台先得月

    第18楼2011/09/15

    最小可以做到0.01mm的光斑？是理论值吧。

    cheng_hc0032(cheng_hc0032) 发表:应该是Horiba公司的XGT,最小可以做到0.01mm的光斑,测量元素可以从Na开始,可以考虑下.

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  • hww168

    第19楼2011/09/16

    平板玻璃缺陷分析，首先要收集到一定数量的样片，在偏光显微镜下找到缺陷的位置，然后用扫描电镜或电子探针进行成分分析，很快就能判断缺陷是在那道工序产生的，我们单位就是这样做的。

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