天黑请闭眼
第11楼2006/03/10
看过TEM_ABC朋友的说法,我一时不敢发言,呵呵。不过自己的水平也就是凭经验罢了,且说出来供你参考:
1. 我看像散一般就看非晶碳的颗粒是否圆润,看你的图形是有些变形的,但你的FFT为什么比较正倒不知道怎么解释
2. 调像散querida朋友说10多分钟就要调一次像散,据我的经验,这个是高压中心没有调好,如果高压中心调好,应该在很大的范围内不需要重新调像散。
3. 据我的经验,调纳米晶体的衍射需要采取倾转--调高压中心--消像散--再倾转的顺序才会有比较好的效果,否则消像散和调节高压中心会把原来的倾转角度给偏移。不知道其他人有没有这个感觉?
4. 高压中心和电流中心以及彗差的意义我区分的不是很清楚,还要听TEM_ABC版友的高论,凡事落到理论上我就迷糊,sigh。
怪味陈皮
第14楼2006/03/10
我只是估计了你拍摄的高分辨像的欠焦量,没有别的意思。如果不作计算模拟或者图像处理工作,只要调出二维条纹,照几张最漂亮的高分辨像就行了。如果要做计算模拟或者图像处理工作照相时最好有接近Scherzer欠焦和Lichte欠焦的图像。
加速电压的不稳定性会使像围绕电压中心呈辐射状的扩大或缩小,我们常说的调整电压中心就是要把电压中心调至和荧光屏中心重合,减小色差。电压中心调整一定要在高倍下做。
日本电子的电镜调整电压中心就是在高倍下(拍摄高分辨像时用的倍数或更高),把样品边缘的一个特征点移到荧光屏的中心,按下HT,按下Bright Tilt钮,调整Deflection X和Y使光以特征点为中心同心收缩和扩大。
FEI的电镜没用过就不太清楚了。
tem_abc
第15楼2006/03/11
从原图FFT上看的像散不算太差,不过把欠焦弄小些(圈大些)还可以调得更好。样品外比较强的碳膜衬度一是来自欠焦过多,二是可能碳膜过厚。还是要先找到在空洞上的合适样品。
无论是电压中心、电流中心(统称旋转中心)还是慧差,都是将电镜的物镜光轴同系统光轴调至平行。在技术上,电流中心启动物镜电流震荡(相当于图像聚焦变化),电压中心启动高压震荡,慧差消除采用两个不同方向但与光轴对称的偏转入射光。在透射电镜中,除了EFTEM外我们很少使用高压变化(除了像降低高压以得高衬度等)。因此我说调整电流中心比电压中心更合理。慧差消除因其容易判断(相似的非晶像衬度),故被认为是比旋转中心更精确的方法。
像散一般不会在短时间内有太大的变化。但在下列情况下,也许会有较大的变化:
1。样品位置变化过大,比如说消像散的区域很远或样品的高度有变;
2。物镜聚焦有很大变化,例如改换了放大倍数的模式(如SA到非SA)
3。磁性样品的微小变动;
4。光斑的会聚情况有太大变化(如光斑中心的平行性优于光斑边缘);