等离子炬
等离子炬 不同频率的电流所形成的等离子炬，具有不同的形状。

在低频（约5兆赫）时形成的等离子，其形状如水滴，试样微粒只能环绕等离子炬表面通过，对试样的蒸发激发不利。

在高频（约30兆赫）时形成的等离子炬，其形状似圆环，试样微粒可以沿着等离子炬，轴心通过，对试样的蒸发激发极为有利。这种具有中心通道的等离子炬，正是发射光谱分析的优良的激发光源。

环状结构
环状结构可以分为若干区，各区的温度不同，性状不同，辐射也不同。

（1）焰心区 感应线圈区域内，白色不透明的焰心，高频电流形成的涡流区，温度最高达10000K，电子密度高。它发射很强的连续光谱，光谱分析应避开这个区域。试样气溶胶在此区域被预热、蒸发，又叫预热区。

（2）内焰区 在感应圈上10 ~20mm左右处，淡蓝色半透明的炬焰，温度约为6000 ~8000K。试样在此原子化、激发，然后发射很强的原子线和离子线。这是光谱分析所利用的区域，称为测光区。测光时在感应线圈上的高度称为观测高度。

（3）尾焰区 在内焰区上方，无色透明，温度低于6000K，只能发射激发电位较低的谱线。

性能
试样气溶胶在高温焰心区经历较长时间加热，在测光区平均停留时间长。这样的高温与长的平均停留时间使样品充分原子化，并有效地消除了化学的干扰。周围是加热区，用热传导与辐射方式间接加热，使组份的改变对ICP影响较小，加之溶液进样少，因此，基体效应小。试样不会扩散到ICP焰炬周围而形成自吸的冷蒸气层。因此ICP具有如下特点：
（1）检出限低；

（2）稳定性好，精密度、准确度高；

（3）自吸效应、基体效应小；

（4）选择合适的观测高度光谱背景小。
由于发射光谱有对一个试样可同时进行多元素分析的优点，ICP采用光电测定在几分钟内就可测出一个样品从高含量到痕量各种组成元素的含量，快速而又准确，因此是一种具有竞争力的分析方法。 ICP局限性： 对非金属测定灵敏度低，仪器价格昂贵，维持费用较高。

根据不同的应用领域，ICP光谱仪又有垂直观测、水平观测和双向观测之分，其中垂直观测型仪器主要适用于基体较为复杂的冶金、地矿、有色金属等领域；水平观测型仪器适用于基体较为简单的水质、环保、食品卫生等领域；双向观测型仪器实际上是以水平观测为主附加垂直观测的仪器，它的最佳应用范围仍是基体较为简单的领域，双向观测能弥补水平观测中所存在的易电离干扰、线性范围变窄等一些缺陷

目前ICP光谱仪主要分为多道型、单道扫描型以及全谱直读型，其中多道型和单道扫描型代表的是80年代的技术水平，它们以光电倍增管为检测器，技术上非常成熟，但也较落后，其中多道型已几乎退出历史舞台，单道扫描型以其合适的价格和灵活方便仍占有一定的市场份额。全谱直读型仪器代表了当今ICP的最新技术水准，它以CID或CCD半导体器件为检测器；中阶梯光栅结合棱镜（或平面光栅）构成二维、高分辩率、高能量色散系统，能同时获得各元素谱线的信息。此类型仪器经近十年的不断完善和发展，目前已成为ICP光谱仪的主流。

影响谱线强度的因素：
（3）基态原子数 谱线强度与基态原子数成正比，在一定条件下，基态原子数与试样中该元素浓度成正比。因此，在一定的实验条件下谱线强度与被测元素浓度成正比，这是光谱定量分析的依据。

谱线的自吸与自蚀 self-absorption and self reversal of spectrum line

等离子体：包含分子、离子、电子等粒子，其正负电荷相等的电离气体。它具有电中性和导电性。
等离子体有一定的体积，温度与原子浓度在其各部位分布不均匀，中间的温度、激发态原子浓度高，边缘温度低，基态与较低能级的原子较多。
自吸：某元素的原子从中心发射电磁辐射，必然要通过边缘到达检测器，这样所发射的电磁辐射就可能被处在边缘的同一元素基态原子或较低能级的原子吸收，使接受到的谱线强度降低。
这种原子在高温发射某一波长的辐射，被处在边缘低温状态的同种原子所吸收的现象称为自吸。
元素浓度低时，不出现自吸。随浓度增加，自吸越严重，当达到一定值时，谱线中心完全吸收，如同出现两条线，这种现象称为自蚀。
基态原子对共振线的自吸最严重
谱线表，r：自吸；R：自蚀；

我刚进入论坛不久，也不知您那书编的怎么样了？

不好意思，我们只有吸收光谱，没有发射光谱！

这样不行，写书自己写吧，不要靠别人。