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xuezhongdong
第11楼2012/02/02
恩，非常感谢您的解答！
洪(coime) 发表:不知道你所指的整体表面形貌指的是什么，透射样品本身就很小，能观察的区域只是很小的一部，对于STEM的话并不是完全和SEM相同，关于STEM，你可以参看帖子
http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20060622/465392/index.shtml
如果要是研究材料的晶体结构，TEM为比较合适的选择，但是如果你想看大区域的表面形貌，SEM为较佳，而STEM依然还是TEM中的一种，还是受到样品的限制，只是在观察时比传统的TEM要直观
对于你所说TEM所观察的区域没有代表性，这是不能认同的，除非你的的电解质是极不均匀的，
传统的扫描电镜如果要升级的，不太可能突破机械本身的限制，这就好比电脑，CPU限制电脑的效能，不管你如何增大内存条，CPU本身是不变，而CPU又和主板有着直接关系，这和电镜差不多，当然如果你更换很多关键的部件，估计总体的费用和买台新的费用相当，现在比较好点的SEM要观察几个纳米大小的可以还是没问题的，何必花尽心思和money来做这些不值的事，我是这么认为的，欢迎讨论
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penguinle
第12楼2012/02/02
这个帖子讨论了这么久还在议论啊，我也来说说。一般来说，TEM是可以看到微米到埃米左右的结构（如果你有球差的话可以看到0.8A，也就是80pm），而SEM看到的是mm到纳米的结构（好的SEM现在分辨率可以略低于1nm了）。就研究材料而言，我还是认为应该先看看SEM，这样就知道材料的均匀性了，然后需要进一步了解的话可以用用TEM。
至于市场上，目前除了美国朱义美他们那组在hitachi 透射上加SEM的，没有人再在TEM里面加上SEM了（以前日本电子生产过这类仪器，后来因为没有市场停产了）。如果你们资金充裕，可以分别买一台场发射扫描再加一台场发射透射；如果资金不够，可以把资金用来付电镜使用费。
我们电镜中心是国内电镜配置最好的实验室，有2台球差校正电镜（FEI的Titan和JEOL的ARM），一台普通JEOL2100，以及一台分辨率为1nm的场发射环境扫描电镜，市场上最先进的FIB以及世界一流的样品制备设备（说到这些，大家也就都知道我们是什么单位了，呵呵）。如果你们想合作，可以站内联系我。
