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  • 阿迈

    第21楼2012/03/18

    2.紫外/可见吸收光谱测量

      液体的吸收率测量可以用不同的实验布局和波长范围来实现,如使用浸入型光纤探头或流动样品池进行在线吸收率测量,或使用样品固定器进行样品的吸收率测量。对于测量紫外/可见波长范围的光谱仪,可以选择波长范围200-1100nm、分辨率1.4nm(FWHM)。此外还需要氘-卤素灯作为光源。不同的应用可以选择不同的光纤探头。

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  • 阿迈

    第22楼2012/03/18

    3.发射光谱测量

      发射光谱测量可以用不同的实验布局和波长范围来实现,还要用到余弦校正器或积分球。发射光谱测量可以在紫外/可见和可见/近红外波长范围内测量。

      对于发射光谱的绝对测量,光谱仪可以配置成波长范围从200-400nm或350-1100nm,或组合起来实现紫外/可见200-1100nm,并可以在美国海洋光学公司的定标实验室里进行辐射定标。定标后的实验布局不能改变,如光纤和匀光器都不能更改。

      为了使实验布局更灵活,用可见/近红外定标光源(LS-1-CAL)或紫外/可见/近红外定标光源(DH2000-CAL)可以在用户现场进行定标。功能强大的广州标旗软件可以完成定标并载入辐射定标数据。

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  • 阿迈

    第23楼2012/03/18

    4.LED测量

      最简单而且迅速地测量LED的整个光通量的方法就是使用一个积分球,并把它连接到一个美国海洋光学公司的光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标(LS-1-CAL-INT),然后用广州标旗软件从测量到的光谱分布计算出相关参数,并实现辐射量的绝对测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μW/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数:辐射量μW/cm2, μJ/cm2, μW或μJ;光通量lux或lumen,色轴X, Y, Z, x, y, z, u, v和色温。

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  • 阿迈

    第24楼2012/03/18

    5.薄膜厚度测量

      美国海洋光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理,可以测量的膜层厚度10nm-50μm,分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到,因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控;其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值,可以实现膜层厚度的在线监测,并可以输出到Excel文件进行过程控制。

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  • 童话仙子

    第25楼2012/03/18

    mike老师也开始学大华老师从官网转帖这些了?

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  • 阿迈

    第26楼2012/03/18

    6.真空室镀膜过程监控

      光纤光谱仪为真空室内镀膜过程的监控提供了一种灵活的测量手段,它可以方便地把光引入并引出真空室或洁净工作仓,同时选择镀膜过程分析所需要测量的参数。在实际的在线生产中,可以在工作仓中放置几个探头来检测整个生产过程。图示为真空室镀膜过程监控的典型实验布局。在这里一个反射型光纤探头用来在线监测镀膜过程。氘-卤素灯发出的光被导入真空室并传导到反射探头上,反射光由反射探头传导到光谱仪中;也可以再增加一个通道作为参考测量来补偿光源的波动。

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  • 阿迈

    第27楼2012/03/18

    7.氧浓度传感器

      氧浓度传感器包括一个光纤荧光探头,探头表面镀有专利技术的膜层,并使用一个蓝光LED作为激发源,还有一台高灵敏度的微型光谱仪。该传感器应用荧光技术测量氧的绝对含量,样品产生的荧光反射回探测器上。当气态或液态样品中的氧扩散到探头的膜层上时,就会使荧光猝灭,猝灭的程度与样品中的氧的浓度是相关的。

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  • 阿迈

    第28楼2012/03/18

    8.宝石成分检测

      颜色是判断钻石成色的决定因素之一,天然钻石和人造钻石可以用波长范围在400-750nm的光检测出来。在天然Ia类钻石的吸收谱中可以发现415nm和478nm的特征波长,而人造钻石在该波长处则没有吸收峰。人造钻石中可以探测到592nm和741nm的波长。而且天然钻石和人造钻石的吸收峰幅值相差近10倍。当然其它宝石也可以用这种方法检测,如红宝石、紫翠玉、蓝宝石等。

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  • 童话仙子

    第29楼2012/03/18

    应用及测量的这些帖子在官网上何止几百帖啊,mikezhu老师加油啊,分享过来后大家都能很直观的学习一下了。

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  • 阿迈

    第30楼2012/03/18

    9.荧光测量

      在许多应用领域如生物学(叶绿素和类胡萝卜素)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪。在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的3%,波长要长于激发光,而且时散射光。在荧光测量系统中,一定要避免激发光进入到光谱仪中。

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