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  • dahua1981

    第71楼2012/12/06

    应助达人

    够老的帖子了

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  • zuiwo

    第72楼2013/02/27

    配置


    1. HR4000 高分辨率光谱仪
    #H6光栅, 波长范围750-925 nm
    5 μm 狭缝作为入射孔径
    2. FOIS-1 用于反射光测量的积分球
    3. OPM-3 三英寸光学支架
    4. QP400-2-VIS-NIR 优等光纤
    5. OOIIrrad-C 应用软件
    6. ASP一年服务包

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  • zuiwo

    第73楼2013/02/27

    测量

    从我们的操作软件中可以观察到由薄膜基底的膜层产生的干涉光谱。分析最大值和最小值处的波长可以确定薄膜的厚度（已知薄膜的折射率）或者确定它的折射率（已知薄膜的厚度）。需要注意的是，样本的厚度可能不是均匀的；我们建议测量薄膜的多个位置点。

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  • zuiwo

    第74楼2013/02/27

    薄膜厚度

    新泽西Salt Point公司开发的薄膜监测系统（TDS），在宽带溶解率监测仪（DRM）中集成了一套海洋光学多通道光谱仪，用来分析半导体和光学工业中使用的超薄的抗蚀膜。

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  • zuiwo

    第75楼2013/02/27

    概要
    附着在基底上的薄膜就如同一个标准具，当观察其表面的反射率时会看到一幅干涉条纹图样。当组合不同折射率的材料时，条纹间隔的正弦曲线分布可以用来计算此薄膜的厚度。

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  • jinshenpei

    第76楼2013/06/03

    这么多应用，可以归类，出几本应用集成册子

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