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  • zhangjiancn

    第12楼2012/04/07

    如果采用粉末压片法，可以考虑+入铅、钡等重吸收剂，以此降低其强度，如果用熔融法就简单了。

    i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:X荧光光谱分析中遇到高含量样品怎么办？还想用X荧光做如何稀释呢？？求教各位达人

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  • zhangjiancn

    第13楼2012/04/07

    你的样品是啥基体的？可能与标准样品不一致造成的吧？

    i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:是测Nb Ta 的几个样品，先做了个半定量，有一个样品半定量的结果都到了30%，我是用土壤标准做的曲线，最高一点才是Nb 300ppm Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ，Nb还可以，Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样，郁闷的很，求教各位。。。

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  • zhangjiancn

    第14楼2012/04/07

    我劝你，首先采用熔融法，对生产样品进行定值，然后用其作为校准样品来建立压片的工作曲线来分析生产样品，这样就克服了矿物及粒度效应。

    i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:曲线里是要加入纯物质的标样吗？样品也是土壤按说与曲线标准基体相仿，只是含量太高，超出曲线最高点很多了

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  • i_0i_0i_0

    第15楼2012/04/09

    多谢指教

    zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:我劝你，首先采用熔融法，对生产样品进行定值，然后用其作为校准样品来建立压片的工作曲线来分析生产样品，这样就克服了矿物及粒度效应。

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