两种方法有何异同呢[/quote]
标准加入法可以抵消掉基质的干扰[/quote]
说的是，化学干扰在光谱上有背景校正，基体干扰有基体改进剂，不过多数情况下标准加入法可以解决问题[/quote]
俺们可以想象光学中，这个变化过程：
I=I0EXP（-aLC）*EXP(-a'LC')
其中，a‘为干扰物质对该波长的吸收系数，C’为干扰物质的浓度（就假设为一种干扰物质好了）
当然，a，C是目标物质的吸收系数和浓度，L就不说了。
如果加标，就是说C会变成C+b，C+2b，C+3b，C+4b，C+5b。假设我这么配样品满足这一关系吧。
那么C‘在这个过程中是保持呢，还是减小？我先请教一下这个问题[/quote]
您的这个和标准加入法很类似啊，平时的标准加入法中的C是待测样品，而在您这里成了干扰物质，您的意思是测定干扰物质吗？？[/quote]
可能还没阐述清楚，我这个根据您提出的标准加入，我来看看在光谱里面的响应理论计算是什么结果。不过我还没有理解清楚您的标准加入法这个过程的细节、比如，标准加入的时候标准品德浓度，还有标准加入之后，原来样品的浓度是不是都被稀释了呀[/quote]
这个俺发了个图片，估计能容易理解一些了的[/quote]
图片在哪呢，没看到啊[/quote]
俺前面发了，要在前面的回复里面找，不知道有没有参考，嘻嘻

第一次听说这个概念[/quote]
估计仪器上用这个概念做计算的没有了的[/quote]
仪器用面积作为物质响应是有的，色谱、质谱都有[/quote]
不止这些吗光谱也有[/quote]
如果用峰面积积分，那么分析仪器都用这个，有谱图的应该都用这个，但是百川老师的意思好像不是峰面积[/quote]
我看他那个意思是在峰面积基础上进行归一化罢了[/quote]
这个归一化法俺到底还是没有理解，俺比较笨，不好意思了[/quote]
看来我还是没讲明白，工夫不够啊[/quote]
嘻嘻，是俺笨，这个不怨您，俺接受的慢了点

应助达人

可能是挖掉一部分确确定不是信号的峰面积吧[/quote]
如何挖，难道手工积分？？[/quote]
这个只能分模式，所以特征吸收峰才有用呢，不是特征吸收的可能不计算入[/quote]
这个和色谱的手动积分还是有区别，毕竟俺没用过，所以对于您说的这个感觉陌生的很[/quote]
对于面积，光谱和色谱可能是差不多的[/quote]
光谱上的面积积分不能手工调整吧，但是色谱就可以[/quote]
一般光谱仪出来是不用的，因为有些检测器就是检测总光亮，相当于已经积分过了[/quote]
原来如此，嘻嘻，谢谢了，还真不知道是这么个原因呢

测量各杂质峰的面积和色谱图上除溶剂峰以外的总色谱峰面积，计算各杂质峰面积及其之和占总峰面积的百分率。由于峰面积归一化法误差较大。因此，通常用于粗略考察供试品中的杂质含量。除另外规定外，不宜用于微量杂质的检查。

光谱归一化 还是头一次听说呢

测量各杂质峰的面积和色谱图上除溶剂峰以外的总色谱峰面积，计算各杂质峰面积及其之和占总峰面积的百分率。由于峰面积归一化法误差较大。因此，通常用于粗略考察供试品中的杂质含量。除另外规定外，不宜用于微量杂质的检查。

测量各杂质峰的面积和色谱图上除溶剂峰以外的总色谱峰面积，计算各杂质峰面积及其之和占总峰面积的百分率。由于峰面积归一化法误差较大。

要自己开发一遍系统吗

专业滴介绍

理论相当扎实撒，莫有研究滴深入想回答问题不容易撒