这位高手其实一直在的，只是不到关键时刻不出手

小M(mitchell_dyzy) 发表:又来了一个高手，欢迎!！

应助达人

那是我没有注意到啊

asahi42(asahi42) 发表:这位高手其实一直在的，只是不到关键时刻不出手

虽然样品可能不一样，但是电池薄膜本身大同小异~主要想说的是，热场在不导电样品上产生的荷电未必大~

老弟，FEI给你用透了。chen也是日立的高手。

共同努力的结果，目前平手，信号量上面还是日立的稍好，FEI噪点较多。不过也在可接受范围

看看,CHENG的应对

相互切磋，良性竞争，共同提高。

这几张照片FEI的机器真的拍得不错啊，充分体现了楼主高超的操作水平

FEI后两张50K和100K的图片中唯一有点美中不足的是图片左侧有黑边现象，电子束扫描起始位置还是轻微损伤或污染了样品。

下次我再把实验室剩下的电池隔膜找出来，尝试一下SU8000的减速模式和更高倍率的图像，继续与楼主切磋

先发几张类似的高分子薄膜（静电纺丝材料），样品同样不导电，纳米细丝容易受电子束损伤，下面的图像是在客户实验室培训时拍摄的，低电压低束流不喷镀直接拍摄，无明显样品损伤或放电现象：

继续，挑战100K以上的高倍率：

之前快一年没上仪器信息网论坛了，这次出来冒个泡哈

asahi42(asahi42) 发表:这位高手其实一直在的，只是不到关键时刻不出手

RoadCH，是这样滴，FEI新版的机器在积分拍照的过程中都可以有一个选项叫“漂移校正”，这样在帧叠加的过程中，即使样品有轻微的位移，都可以得到边缘清晰的照片。像上面两张50k和100k的，拍照的过程中样品应该是微微地朝左飘走了，叠加的结果就是左边的位移量叠加信号较弱，产生了黑边。样品往哪个方向飘，黑边就会产生在哪里，但是既不影响观察，又降低了废片率和操作者的劳动强度~（一般人我不告诉他）

RoadCH(roadch) 发表:这几张照片FEI的机器真的拍得不错啊，充分体现了楼主高超的操作水平

FEI后两张50K和100K的图片中唯一有点美中不足的是图片左侧有黑边现象，电子束扫描起始位置还是轻微损伤或污染了样品。

原来是这样，学习了。理论上讲这个漂移校正功能应该会很有作用，积分模式抑制荷电能力很强。

相比之下，我那几张非减速模式下的CSS扫描模式获得的照片仍然有轻微的荷电痕迹，但信噪比不错，减速模式下也许会更好些，下次有空尝试一下。

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RoadCH，是这样滴，FEI新版的机器在积分拍照的过程中都可以有一个选项叫“漂移校正”，这样在帧叠加的过程中，即使样品有轻微的位移，都可以得到边缘清晰的照片。像上面两张50k和100k的，拍照的过程中样品应该是微微地朝左飘走了，叠加的结果就是左边的位移量叠加信号较弱，产生了黑边。样品往哪个方向飘，黑边就会产生在哪里，但是既不影响观察，又降低了废片率和操作者的劳动强度~（一般人我不告诉他）[/quote]

RoadCH，是这样滴，FEI新版的机器在积分拍照的过程中都可以有一个选项叫“漂移校正”，这样在帧叠加的过程中，即使样品有轻微的位移，都可以得到边缘清晰的照片。像上面两张50k和100k的，拍照的过程中样品应该是微微地朝左飘走了，叠加的结果就是左边的位移量叠加信号较弱，产生了黑边。样品往哪个方向飘，黑边就会产生在哪里，但是既不影响观察，又降低了废片率和操作者的劳动强度~（一般人我不告诉他）[/quot

如果样品来回的漂，会怎样呢？漂移校正的结果会如何呢？