谢谢大侠，我这里有几个问题

1，为什么在He模式下测量Se78能达到这么低的限度，其他的元素不可以吗？原理是什么？但是Se78的话Ar40+Ar38的话有干扰的。

我说用的是77Se和82Se。

2，为什么Agilent 7700不能想您所说的Agilent 8800那样测量Se呢？这2者的不同和原理能具体说一下吗？谢谢

timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:你的这个帖子提到：既有 Agilent 7700，又有8800 ICP-MS/MS。

http://bbs.instrument.com.cn/Topic.asp?threadid=4360687&page=2

植物样品经过微波消解后，基体简单，在7700x上用He碰撞模式测 78Se，检出限能达到5-6 ppt。

如果你那儿是半导体高纯材料行业使用的7700s，那就用H2反应模式测 78Se，检出限能更低。

岩石的稀土总量比较高(100-200 ppm)，Se含量极端低(<100ppb)，这就可能出现带双电荷的中稀土元素干扰Se（见下图）。非常适合用 Agilent 800 ICP-MS/MS 来测岩石的Se：第一个四极杆【Quad 1】只让80Se+、160Gd++、160Dy++ 通过，然后在ORS八极杆碰撞反应池中通入氧气，80Se转化为80Se16O，而160Gd++、160Dy++不与氧反应，第二个四极杆【Quad 2】监控91amu，测出80Se16O含量。

应助达人

我们只是一路在摸索，但硒目前还没有找到合适的方法。未来继续探索，直至解决问题。

你们都太专业了，佩服~

我认为，利用PE的DRC反应池，甲烷做反应气体，可以测准确硒含量。

你随便找本ICP-MS英文质谱书看看，就知道：碰撞/反应池消除多原子干扰有三种机理：

(1) 碰撞诱导解离 Collisional Induced Dissociation = CID

(2) 动能歧视 Kinetic Energy Discrimination = KED

(3) 反应模式 Reaction

Agilent 7700x、Thermo iCAP-Qc、PE NexIon 300X 是He碰撞(KED)。

供高纯材料、半导体行业使用的 Agilent 7700s、Thermo iCAP-Qs 是 He碰撞(KED) ，有时还会用到H2反应。

选择哪个硒同位素来测，要结合同位素丰度、多原子干扰程度、待测样品基质，具体问题具体分析：

77Se 自然丰度 7.63%，40Ar37Cl干扰

78Se 自然丰度 23.7%，78Kr(自然丰度0.35%)、38Ar40Ar干扰

80Se 自然丰度 49.6%，80Kr(自然丰度2.29%)，40Ar40Ar干扰

82Se 自然丰度 8.73%，82Kr(自然丰度11.6%)

ICP-MS 烧氩气，液氩中不可避免地混入Kr。78Se自然丰度 是 82Se的2.7倍；但同量异位素干扰 78Kr丰度只是82Kr丰度的3%。显然选择78Se。接下来，Agilent 7700 用He碰撞动能歧视 甑别78Se与38Ar40Ar。

Agielnt 8800 是ICP-MS/MS，用O2反应模式，可以选择78Se、也可以选择80Se。但既然Quad 1可以进行基质筛选，那么为什么不选择丰度高的80Se呢？

谢谢您的指点，关于碰撞这方面的，我确实还没有仔细看过。我一直以为稀有气体Kr不会有干扰，没有估计在内，现在明白了，谢谢

您好，我还有一个问题想请教下。我用的内标准In，最近测量的counts变化很大，我想问一下，您用的内标准是什么，或者说您觉得Se用什么内标准比较好。

基本上内标准选择1，地壳平均含量应该比测定元素低.2，和被测量元素的原子质量相差较小。我有看过用Ge的，但是Ge的地壳平均含量比较高，比Se高，而且原子质量和Se太近，估计对Se影响较大。我自己也打算用Bi，但是Bi的原子质量太大。如果用Te不知道如何？

内标选择标准：

(1) 待测样品中没有这个元素，或者含量极低 可以忽略不计。

不知道为什么会提到地壳丰度？

(2) 内标元素与待测元素质量相近，ICP电离行为相似。

我觉得Ge就挺好的。

李老师说的应该是经典，标准溶液肯定没有问题，Se元素受基体影响很大。

请做硒做的好的详细讲一下过程吧，从前处理到编制方法，用的分子量和内标以及干扰方程。
想学习。我们也是，曲线很好，但食品样品就做不好。