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CE@椰子鱼
第23楼2006/09/30
这个问题在于你测定的样品的类型 状态和你做的标准曲线
如果都比较合适的话 测出的结果还是可以的 我用AXIOS 测液体中的金属元素，水体系中的检测线比较低 许多元素在1ppm下能达到良好的重现性。
XRF的检测就是方便 快捷，仪器成本比较高 X光管贵！一般其检测结果（ppm级别的许多样品）不具备仲裁性，需要用ICP出具报告，但在限定检测（含量不是特别的低）方面有其优越性。在中控检测和Rohs方面用得比较多起来。
至于上限的意义不是很大，在于你要求的精度和标准曲线。不过样品类型的差异对XRF的扫描时间和结果的可信性是有很大差异的。即同一含量范围的不同类型或基体的样品的标准曲线不可以用一个标准曲线的。比如水体系和醋酸体系的元素测定 用同一曲线测定结果差异比较大。
我们单位有AAS ICP WDXRF EDXRF 感觉XRF比较方面 对于未知样品 可以用半定量系统测定其大体的范围 我们单位发的项目纪念品——双龙戏珠钛杯 检测其钛元素在72.5%
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abshuhuhuhu
第27楼2007/02/14
wd是波长色散型，ed是能量色散型，前一个贵，精度高多了，后一个便宜。精度一般。
原理很简单，就像我们看到的光，wd是分成单色光分别测量。ed就只测光的总强度，是不是对应元素的特征光就不一定了。
icp是不能测pbb/pbde的，这两个是有机分子。icp只能测元素(或者说原子）总含量，对价态和是什么分子无法判别，需要其他手段辅助。
icp的样品前处理挺简单的，当然，对于没有化学背景的人，会怕试剂所以觉得困难。呵呵。sky2400 发表:我也是一知半解，就我知道的简单说说吧。
XRF是x射线荧光检测的方法，分WDXRF和EDXERF（谁来解释一下WD和ED的区别）。
所需样品需要均质，就是物理粉碎方法粉碎到最小的单位，而不破坏它的化学成分。均质材料（如一块塑料）直接测就行，非均质材料（如一块电路板）需要研磨再压片。所以说样品前处理不用ICP那么麻烦。相应的检测仪器只能检测总含量，就是说，Hg，Cd，Pb的检测不受影响，但Cr，Rr只能检测总量，而不管价态和实际化学组成，所以在这方面是无法替代ICP的。检测速度很快，十来分钟吧。操作也简单。检出线很低，几个ppm，并不是象某些人说的那么差，当然上限是有的，大约1000ppm。
目前欧洲的检测是XRF，ICP，UV几种方法相结合，抽查。我想XRF测HgCdPb合适，ICP测PBB/PBDE,UV分析六价Cr，都是可以定量分析的。
现在国内对XRF认识不够，不是其技术不行，而是没有推广开。抛砖引玉，期待大牛补充，我是新手，说得不对的地方请指证，多谢啦。
