林老师可以考虑去厂商做工程师，这样就有机会接触各种SEM了。当然，还要经常调动，去不同的厂商，因为在一个公司里面，能接触到的也十分有限。这是我从已经是工程师的朋友处感受到的。[/quote]

呵呵，是呀，不过我们国家有许多地方拥有许许多多的各厂家电镜。看机会去做做访问学者，玩玩他们那里的电镜。不过每次去可能先要做保养。不晓得那些电镜给学生破坏成啥样。

的确如林老师所说，kit-6结构和sba15虽然在TEM里面都比较好拍，但SEM未必，KIT-6恐怕比较难拍，我先找找质量高的样品再说。
至于介孔材料放半年，基本是没戏的，除非干燥条件特别好，之后抽真空保存或许还行。

关键是透射电镜是投影像，所以孔径的真实度无法保证

这些样品还是看扫描好。哦，我还以为SBA15会好一些。KIT6和SBA15硅所都有，我让吴伟提供一个最难的，他选了KIT6，他在这方面很有经验。所以不会有错

http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130108/4501126/

如您所愿，呵呵~

放久了会有什么问题？孔里会吸附污染物？孔道塌掉？

介孔怕潮，湿度大容易结构崩塌。

这分子筛图像相当不错啊！asahi42以后可以作为FEI扫描电镜的代言人了，看到你的实验结果就知道FEI的SEM能拍到什么程度。

另外问一下：TLD探头和CBS探头信号可以混合吗？

信号混合应该没难度吧，实在不行就PS，效果一样，呵呵。

可以的~RoadCH，那啥因为是两个探头，所以可以同时成像，第一第二象限成像完了以后可以在第三象限做任意比例混合~^_^

你也代表了Hitachi的国内最专业水准呀~

看图像中只显示TLD探头或CBS探头，也有可能Probe Current等参数值设置会差异较大，混合图像不知有没有意义？
按道理应该是TLD探头分辨率高，工作距离也能调到更近，但感觉信噪比和清晰程度不如CBS探头，
我猜有可能是两种原因：
1、TLD探头接收SE信号，图像有轻微放电现象，造成立体感损失；而CBS探头接受较高能量BSE信号，不放电
2、样品在溶液超声波制备过后，表面残留污染，SE信号来自极表面信号，受污染层影响清晰度；而CBS探头接受较高能量信号，受污染层影响小。

请asahi42专家帮忙解答一下。