死时间是不是就是无效时间

以一张图来说一下，这些关系。个人理解死时间为没有被检测出来的脉冲（这些没有被检测出来的脉冲占了所有时间的百分之多少），或者理解为一个输出效率问题，以下pdf中也有说到这个输出效率问题。
看这个图中，在不同的peaking time下，icr和ocr的关系图，这是因为成型时间（峰化时间）的问题，导致了不同程度的输出效率问题，试想这个时间越大，虽然通过率变大了，但是堆积的问题就越严重，所以导致OCR减少，当OCR达到饱和时，再增大ICR，OCR反而会急剧下降。

大家可以看一下这个pdf（http://www.amptek.com/pdf/sdd_chinese.pdf），里面有不少图表，说明了一些计数率、能量分辨率等关系，之间没有绝对的关系，因为涉及到的参数、因素很多，比如探测器的面积、成型时间（PDF中理解为峰化时间）等等。

仅代表个人观点。

那这个死时间不是可以通过调节快道阈值慢道阈值上省时间评定时间来调节的么？