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  • haoxinustb

    第11楼2013/04/08

    谢谢，这个附件怎么下载啊

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  • haoxinustb

    第12楼2013/04/08

    谢谢，这个附件怎么下载啊。未验证。。

    新加坡现代材料(SH100891) 发表:S含量检测应该没问题吧，给你个报告看看。

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  • 新加坡现代材料

    第13楼2013/04/08

    给我邮箱，发给您。

    haoxinustb(v2703076) 发表:谢谢，这个附件怎么下载啊。未验证。。

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  • 仗剑少年游

    第14楼2013/04/12

    检测数据看干什么用了，常量分析，XRF的半定量结果还是很可靠地，难道是想用炉渣做水泥（否则关心硫含量干什么？）。

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  • 秋月芙蓉

    第15楼2013/04/12

    已经验证了

    haoxinustb(v2703076) 发表:谢谢，这个附件怎么下载啊。未验证。。

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  • haoxinustb

    第16楼2013/04/14

    验证了，可以下载，3Q

    新加坡现代材料(SH100891) 发表:给我邮箱，发给您。

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  • 禾苗EDXRF

    第17楼2013/04/16

    测S含量本身对XRF的要求就高，1楼说的是正解，这是测量方法上的要求，对于硬件来说，如果是能谱的话，探测器起码要SDD的才行，像Si-PIN探测器就不可能做到了

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  • 新加坡现代材料

    第18楼2013/04/18

    No. No. No

    最初X荧光使用的还是正比计数器的时候，照样有人用来测S测得还不错的。要看你在什么样的检测范围，以及可能产生的相互干扰元素都有没有，还有基体效应等等，不能一概而论。X荧光最便宜都是几十万的仪器，Si-PIN检测器是现阶段价格比较便宜的，能满足要求的话，无需非SDD不可，甚至就算你一定要较高的Si-Li检测器，也要看冷却能不能满足要求。就像你只需要做文档，打印报告什么的，需要买个Mac Pro吗？

    禾苗EDXRF(v2711375) 发表:测S含量本身对XRF的要求就高，1楼说的是正解，这是测量方法上的要求，对于硬件来说，如果是能谱的话，探测器起码要SDD的才行，像Si-PIN探测器就不可能做到了

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  • 仗剑少年游

    第19楼2013/04/18

    同意！

    检测不是器材流，在于检测对象和检测要求。

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  • ian.cheng

    第20楼2013/04/18

    哪种XRF呢？
    听说如果S含量很低的话，需要真空条件下测试

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