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jack510070
第52楼2013/08/21
首先，光学机械没有你想象那么不堪，而且不需要一会儿反射到PMT，一会儿反射到CCD，多道工作时反射镜让开光路就可以了。反射镜动作的重复精度对CCD光谱系统的影响也不大。你所说的半透半反的方法牺牲了光谱系统最关键性的指标——光通量，这在光谱系统设计中是最不可取的方案。
其次，分辨率的确和你所说的那些有关，但在CCD光谱系统中，并非可以任意选择。比如说，选用不同的谱级需要考虑有效的谱级分离器，在这么一个小系统中是难以想象的；再比如说，光栅刻线密度高会导致自由光谱区域（FSR）收窄。最后，窄的输出狭缝对光谱分辨率是没有意义的——只有窄的输入狭缝才有意义，这就又回到光通量的问题上了。CCD像素间距小只能提高像素分辨率，即指标中每像素多少纳米的那个参数，这个参数是不能作为光谱分辨率的。老头(shguan) 发表:1、肯定不是这样。如果真的是这样：用反光镜一会反射到PMT，一会反射到CCD，那就没个准了。每次反光镜动作后的反射光的位置都会有一些变化的。就是反光镜不能动，将一部分光反射到CCD就可以了。您还记得BAIRD的FMT吗？就是这样的。
2、焦距短不等于分辨率不好。分辨率与焦距、刻线、谱级、等是有关系。但是别忘了，分辨率还与狭缝（这里是与CCD的像素大小和距离有关系呢）的宽窄有关系。所以焦距短不等于分辨率就差。千万别搞错了。这个CCD完全可以定量分析的。说不定高含量的精度会好于PMT呢。就看ARL有没有水平了。等着看看吧。老头
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老头
第53楼2013/09/06
jack510070(jack510070) 发表:首先，光学机械没有你想象那么不堪，而且不需要一会儿反射到PMT，一会儿反射到CCD，多道工作时反射镜让开光路就可以了。反射镜动作的重复精度对CCD光谱系统的影响也不大。你所说的半透半反的方法牺牲了光谱系统最关键性的指标——光通量，这在光谱系统设计中是最不可取的方案。
其次，分辨率的确和你所说的那些有关，但在CCD光谱系统中，并非可以任意选择。比如说，选用不同的谱级需要考虑有效的谱级分离器，在这么一个小系统中是难以想象的；再比如说，光栅刻线密度高会导致自由光谱区域（FSR）收窄。最后，窄的输出狭缝对光谱分辨率是没有意义的——只有窄的输入狭缝才有意义，这就又回到光通量的问题上了。CCD像素间距小只能提高像素分辨率，即指标中每像素多少纳米的那个参数，这个参数是不能作为光谱分辨率的。
向您学习啦！有几个问题请教了：1、哪一种仪器（多道直读OES）是用反光镜来回将光反射到不同的光栅上的？2、在PMT的仪器里，如果出射狭缝对分辨率没有意义，那为什么还要用出射狭缝呢？3、如果您说的是CCD的出射狭缝的话，请注意我并没有说过CCD要用出射狭缝呀。4、您说《选用不同的谱级需要考虑有效的谱级分离器，在这么一个小系统中是难以想象的》。那么现在的ICP的仪器不都是非常好的解决了谱级的分离吗？并不困难呀。老头
