+关注 私聊

  • 依风1986

    第11楼2013/08/17

    应助达人

    你们样品类型复杂的话都是一样类型的样品吗？内标加标准加入法？

    sasha(540019326qq) 发表:我们的标准曲线是比较干净的，而样品一般都比较复杂，样品要想得到和标液一样的谱图估计比较困难！我就想问大家遇到基体复杂的样品，在背景这块是如何处理的？通过校正还是什么办法？能拿出个方案来！

0
    +关注 私聊

  • sasha

    第12楼2013/08/17

    哦，谢谢！我们用的AFS是海光的，ICP不是！

    qq250083771(qq250083771) 发表:北京科创海光 SPS8000 网上有介绍 您可以看看

0
    +关注 私聊

  • sasha

    第13楼2013/08/17

    依风老师，您没太理解我发帖的意思。我是说，如果我们的谱图已经出现了上述几种情况，要如何解决！

    依风1986(xurunjiao5339) 发表:你们样品类型复杂的话都是一样类型的样品吗？内标加标准加入法？

0
    +关注 私聊

  • 依风1986

    第14楼2013/08/18

    应助达人

    我们安捷伦ICP里面有个FITTED模式，就是软件自带扣除背景校正的，比较好用，对于样品基体简单的实用

    qq250083771(qq250083771) 发表:我听一个工程师讲过 可以进行左右背景校正

0
    +关注 私聊

  • sasha

    第15楼2013/08/18

    哦，我要好好研究一下我们的仪器是否有这个功能

    依风1986(xurunjiao5339) 发表:我们安捷伦ICP里面有个FITTED模式，就是软件自带扣除背景校正的，比较好用，对于样品基体简单的实用

0
    +关注 私聊

  • yeah

    第16楼2013/08/18

    安捷伦ICP里面的FITTED模式一般是默认的设置，针对B图和C图如果你觉得自动校正不好的话可以用左右两点校正，左右两点改动就行了。
    从B图和C图上看，应该是基体存在干扰，采用标准加入法较好，你可以试试看

0
    +关注 私聊

  • 依风1986

    第17楼2013/08/18

    应助达人

    软件一班都有自带校正背景的，普通样品应该没有什么问题

    sasha(540019326qq) 发表:哦，我要好好研究一下我们的仪器是否有这个功能

0
    +关注 私聊

  • 千层峰

    第18楼2013/08/20

    一般重新测试是无用功。

    这些基本是样品本身或试剂造成的。

    可以换一下积分方式。如峰高积分。

    或缩小积分范围，尽量减少光谱干扰对结果的影响。

    sasha(540019326qq) 发表:重新测试？重新测试又不能改变谱图的形状！

    遇到谱图异常这种情况要如何处理呢？

0
    +关注 私聊

  • sasha

    第19楼2013/08/20

    这好象是一个办法，呵呵！谢谢！

    千层峰(jxyan) 发表:一般重新测试是无用功。

    这些基本是样品本身或试剂造成的。

    可以换一下积分方式。如峰高积分。

    或缩小积分范围，尽量减少光谱干扰对结果的影响。

0
    +关注 私聊

  • chun870605

    第20楼2013/08/20

    个人建议缩小积分面积，像图c，测铝合金的Pb，就是这谱图，如果积分面积宽了，结果边偏小甚至还会出现负数，导致误判。当然，缩小积分面积也会做出误判，但这种误判只会误判为fail，就是有数。平时接触的样品基本都是没数的，当遇到有数的样品我会查看谱图，再做出判定。
    图a，b正常积分应该没问题，图d建议换谱线，铁中的Pb就是像这谱图

1
  • 分
  • 该帖子已被版主-sasha加2积分，加2经验;加分理由:应助
查看更多