呵呵，笔误。应该是电子陷阱，那个是有磁场的会影响漏磁，抵近样品会有问题的。可是SDD探头装那呀，工作距离是多少呀。我没接触过不知道呀。
摘除是电子摘除还是机械摘除？

拆掉的是电子陷阱，准直器是另外一个部件：



准直器上不会加高压，也没必要吸引电子。

文中说：② 临时摘除EDS探头的电子陷阱，牺牲部分信噪比，以减少对高分辨Mapping的干扰。拆或不拆
电子陷阱对X-射线光子有什么影响？电子陷阱对X-射线信号Mapping有干扰？[/quote]

看图标应该是全屏放大倍数。对FEI的机器不太熟悉。

应该是50X0.42大致21万左右。这个倍率做能谱面扫确实比较难，而且还是对于特定的样品。就像楼上的样品，很紧密的镍颗粒依附在一个原子序数相对较低的物质上。我估计也就是单质镍才行，要是镍的氧化物颗粒也是不可能获得这样的结果的。这个需要两种或三种物质有极为明显区别的表面依附才 能分辨出来。

我出一个样品估计很难做出这种面分布。那个样品吴老师也做过就是四氧化三铁与石墨烯混合物，将四氧化三铁颗粒区分出来。就没那么好弄了。

解决方案里有句话“调整能谱探头高度及升缩距离”，探头高度怎么调整呀？难道改法兰盘？动静有点大。如果只是调整伸缩距离，探头高度倒是能变化，但是探头的瞄准方向不变，此时会损失接受角，1.5mm工作距离基本上就没信号了。所以我的理解是，去掉准直器最大的作用是取消这个装置对瞄准方向的限制，在1.5mm的工作距离下，让侧向跑出来的X射线能被探头接收到。不过这个接收角仍然很小。

分析的结果是不知去掉的是准直器还是电子陷阱。电子陷阱没理由去掉，准直器有理由去掉。

机械去掉这些应该不麻烦吧，关键是容易出问题。偶是没有经济基础做后盾，不敢这样做。不怕一万、只怕万一。我觉得不应该是机械去除，应该是电子去除。就是把电子陷阱关掉，还有就是探头位置到底是在那？如果是我这里的液氮探头是无论如何都无法在1.5MM工作距离取出相应的信号的。

其实我觉得没必要这样麻烦，要是能够大工作距离成高分辨像那须这样麻烦。这个样品大工作距离20万倍如果采用YAG探头应该没有问题。就是下探头也未必图像不能用，但不会那么清晰。

应助达人

有9篇作品啊，期待sept后续的作品展示

此次用户会牛津仪器还发布了多探头系统。如果有了上图的利器，吴老师就不必那么折腾了。

根据作者文中的意思工作距离很小，EDS探头也需距离很近。有准直器隔离，窗口就无法靠近样品，同时对信号电子（不是X-光子）不但有影响，还会被激发产生额外的信号电子。所以必须去掉。去掉准直器很简单，仅仅是一个套管而已。这合乎测试要求。要说去掉电子陷阱不但违背设置电子陷阱的原理，实际操作也无法实现。

准直器拿掉以后，电子陷阱也跟着下来了，不得不拿掉。电子陷阱本身也有一定长度，影响探测器对样品的张角。