用XRF应该不太好测。

要准确的区分出两层厚度，用XRF是比较难。
XRF其实就是利用射线强度，用数学模型计算方法，算出来的厚度。
元素一样，特征X射线就是一样的，区分不了。

用XRF测不了的，咨询了一下，用扫描电镜，飞纳的。不过价格比较贵，十几万美金。

用金相显微镜

电子扫描显微镜是可以的，垂直镀层的方向切割制样，可以亮出来。

X荧光可以测试，具体情况还是要看您公司的产品。如有需要可以联系我，我司可以帮您测试，看下测试效果。

专业测厚设备，电联。

这种情况我碰到过，两层镍，一层是光亮镍 一层是半光亮镍是吧？ 有意站短！

这种叫多层镍工艺，X射线只能测量总厚度，无法区分。要用电解的方法，利用2层不同工艺镍的电位差来测量。

这个应该可以用GDS辉光放电光谱仪做，许多钢铁冷轧薄板镀锌板之类的镀层逐层分析都是用这个仪器做的，貌似用的都是进口品牌，具体谁家的就不说了，可以自己查一下。