明白了 谢谢

XRD:利用固定的波長的特徵X-ray去打晶體材料,依據nλ=2dsinθ就可以知道未知材料的d間距,再查資料便可以知道其結構是什麼
XRF:利用加速的電子束打在試片上,會將元素的內層電子激發出來,然後外層的電子跳回去,兩個能階的差就會有能量以波的方式產生,這個特定能量差的光就是螢光,利用偵測螢光能量的大小,便可以知道是哪一個元素從哪一層跳到哪一層所產生的,偵測到某特定能量的強度與元素的量有關,因此,可以作為元素的定量與定性.

XRD:利用固定的波長的特徵X-ray去打晶體材料,依據nλ=2dsinθ就可以知道未知材料的d間距,再查資料便可以知道其結構是什麼
XRF:利用加速的電子束打在試片上,會將元素的內層電子激發出來,然後外層的電子跳回去,兩個能階的差就會有能量以波的方式產生,這個特定能量差的光就是螢光,利用偵測螢光能量的大小,便可以知道是哪一個元素從哪一層跳到哪一層所產生的,偵測到某特定能量的強度與元素的量有關,因此,可以作為元素的定量與定性.

基本原理相同,都是布拉格公式 2dsinθ=nλ.不同的是:XRD是用固定波长λ,通过不同的θ 角,可以获得d 值,即可得到晶体信息.而WDXRF(波长色散X射线荧光光谱仪),对每种元素选用固定d的晶体,在特定角度可对获得不同元素的特定波长λ,由此可进行元素成份分析.

学习！！！！！！！！！！

我是新手，学习了，谢谢！

X射线衍射仪-- X-Ray Diffractomer(XRD) 任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构，在一定波长的X射线照射下，每种晶体物质都给出自己特有的衍射花样。每一种晶体物质和它的衍射花样都是一一对应的。多相试样的衍射花样是由它和所含物质的衍射花样机械叠加而成。
X射线荧光光谱仪-- X-Ray Fluorescence Spectrometer(XRF) 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射特征荧光X射线，也就是二次X射线，根据谱线的波长和强度对被测样品中元素进行定性和定量分析。