那天想想，的确HAADF就是样品下面的背散射探头啊，二者都跟Z有关，都是卢瑟福散射，都是圆（环）形探测器，只是透射的物镜设计很难伸入一个背散射探测器，否则考虑到这么高的能量也会有类似的效果吧？

不好意思，挖了个老帖

我想问问这个相机长度的大小跟放大倍数（题目提到的低放大倍数）有什么关系？

放大倍数是由这个相机长度控制的？

关于这个问题我有另外的理解：
1）HAADF接收的信号与原子序数有关，同时也与样品厚度有关。因此样品的厚薄起伏是要影响接收信号强度的，也就是说有形貌衬度的成分；
低倍下观察的样品尺寸较大吧，比如粉末样品，高低起伏就比较明显，容易看到立体。

2）SEM中的背散电子也是有形貌衬度成分的，只是原子序数衬度是特点，很多时候形貌衬度就被忽略了。关于这点正好最近FEI用户会上看到该公司做的环形分区的背散电子探头可以用外环反应形貌，内环反应原子序数衬度

所谓的边沿效应是指边沿处的高角散射比较多吧？

不好意思，写完才发现是前年的话题了