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  • richardyan

    第11楼2013/11/21

    如只做油中的硫,控制指标不大于10ppm,斯派克IQ即可;如还有一些固体粉末中的重金属,可选用斯派克XEPOS,波谱太贵了没必要。

    hkgt(hkgt) 发表:想买一台进口的X荧光,请教一下品牌。我所了解的有布鲁克、帕纳科,牛津,XOS,赛默,斯派克,堀场,岛津。请问你觉得比较好的是哪家,包括售后方面。如果有什么好的品牌还请推荐一下。我主要做油中的硫,控制指标不大于10ppm,还有一些固体粉末中的重金属,是不是波谱更适合点?

    先谢谢各位了!

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  • 小小文子

    第12楼2013/11/21

    有意请站短。

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  • 四眼胖哥

    第13楼2013/11/23

    买仪器主要还是能够满足自己的需求,针对您说的测试要求,很多国产仪器都可以满足,不一定非要进口的,相比售后服务,价格方面,国产仪器都有一定的优势。

    如有需要可以站短信。

    hkgt(hkgt) 发表:想买一台进口的X荧光,请教一下品牌。我所了解的有布鲁克、帕纳科,牛津,XOS,赛默,斯派克,堀场,岛津。请问你觉得比较好的是哪家,包括售后方面。如果有什么好的品牌还请推荐一下。我主要做油中的硫,控制指标不大于10ppm,还有一些固体粉末中的重金属,是不是波谱更适合点?

    先谢谢各位了!

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  • joe

    第14楼2013/11/24

    要采用ASTMD2622, ISO 20884, ISO14596分析标准分析油品中的S,只有采用通常的波长色散X射线荧光光谱仪,且有较大的功率。
    因为如下原因:
    1、对于液体样品的分析所谓的延长时间提高计数率是不具有实际操作性的。油品会被X射线管加热产生气泡,同时麦拉膜也有承载时间限制。这就要求必须采用大功率荧光。
    2、当汽油样品中的C/H变化时,或O的含量变化时,背景不仅会波动,而且会变化WDXRF测量油品中的S的检出限约为1ppm。当我们测量几个ppmS时,由于含量太低,SKα的信号只是略高于背景信号。比如一个S含量为10.2ppm的样品,用1kWWDXRF仪器测量,SKα的信号为0.6057kCPS,背景信号为0.4516kCPS。背景信号与峰位信号的强度在同一个数量级。背景的波动会明显影响测量结果。因此ASTMD2622, ISO 20884, ISO14596标准都要求测量背景,用净强度计算结果。这是单波长荧光不能实现的。
    综上
    对于10ppm含量S的分析必须要采用大功率波长型荧光,并且由于下照射在麦拉膜承载下没有不平的分析面(上照射必须通过不经济也不实用的方式解决液体张力产生的曲面),一定要选择下照射(下照射和上照射本质上只是不同的设计思路,不存在优劣问题。但由于下照射的适用面更广,世界主流荧光仪厂家仪器设计上采用下照射更多一些)。


    可珑(collon) 发表:是的

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  • 仗剑少年游

    第15楼2013/11/25

    很精彩,建议单独开一贴科普!

    joe(bigben111) 发表:要采用ASTMD2622, ISO 20884, ISO14596分析标准分析油品中的S,只有采用通常的波长色散X射线荧光光谱仪,且有较大的功率。
    因为如下原因:
    1、对于液体样品的分析所谓的延长时间提高计数率是不具有实际操作性的。油品会被X射线管加热产生气泡,同时麦拉膜也有承载时间限制。这就要求必须采用大功率荧光。
    2、当汽油样品中的C/H变化时,或O的含量变化时,背景不仅会波动,而且会变化WDXRF测量油品中的S的检出限约为1ppm。当我们测量几个ppmS时,由于含量太低,SKα的信号只是略高于背景信号。比如一个S含量为10.2ppm的样品,用1kWWDXRF仪器测量,SKα的信号为0.6057kCPS,背景信号为0.4516kCPS。背景信号与峰位信号的强度在同一个数量级。背景的波动会明显影响测量结果。因此ASTMD2622, ISO 20884, ISO14596标准都要求测量背景,用净强度计算结果。这是单波长荧光不能实现的。
    综上
    对于10ppm含量S的分析必须要采用大功率波长型荧光,并且由于下照射在麦拉膜承载下没有不平的分析面(上照射必须通过不经济也不实用的方式解决液体张力产生的曲面),一定要选择下照射(下照射和上照射本质上只是不同的设计思路,不存在优劣问题。但由于下照射的适用面更广,世界主流荧光仪厂家仪器设计上采用下照射更多一些)。


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  • joe

    第16楼2013/11/25

    切换氦气氛围确实是个问题,但如果只做油品就不存在切换问题了。

    如果存在固体和液体切换问题,或者样品量不大不能持续通氦气的建议选择配有高分子材料封挡的波长荧光仪,能够将样品室和光谱室分开。提高了便捷性的同时也提高了灵敏度(这对低含量S分析也是很关键的)。

    仗剑少年游(yue_qiu) 发表:波谱不是很方便……切换氦气氛

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  • 横疏影

    第17楼2013/11/26

    既然只做油中硫测量,还测到10个ppm,大部分进口荧光都可以。
    我记得齐鲁石化那边有一些牛津的能散的XSP8000。
    牛津的这款荧光仪在油中测硫的应用上用得还不错,一般情况下可以检测到几个ppm甚至1个ppm。楼主有意的话可以发邮件细聊。
    153423335@qq.com

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  • joe

    第18楼2013/11/26

    布鲁克的那款仪器据我所知也不是只能测S,至少包括Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn19种元素。

    仗剑少年游(yue_qiu) 发表:很精彩,建议单独开一贴科普!

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  • hkgt

    第19楼2013/11/26

    谢谢你的解答。还想问一下,X光管一般要多大的功率比较合适?

    joe(bigben111) 发表:要采用ASTMD2622, ISO 20884, ISO14596分析标准分析油品中的S,只有采用通常的波长色散X射线荧光光谱仪,且有较大的功率。
    因为如下原因:
    1、对于液体样品的分析所谓的延长时间提高计数率是不具有实际操作性的。油品会被X射线管加热产生气泡,同时麦拉膜也有承载时间限制。这就要求必须采用大功率荧光。
    2、当汽油样品中的C/H变化时,或O的含量变化时,背景不仅会波动,而且会变化WDXRF测量油品中的S的检出限约为1ppm。当我们测量几个ppmS时,由于含量太低,SKα的信号只是略高于背景信号。比如一个S含量为10.2ppm的样品,用1kWWDXRF仪器测量,SKα的信号为0.6057kCPS,背景信号为0.4516kCPS。背景信号与峰位信号的强度在同一个数量级。背景的波动会明显影响测量结果。因此ASTMD2622, ISO 20884, ISO14596标准都要求测量背景,用净强度计算结果。这是单波长荧光不能实现的。
    综上
    对于10ppm含量S的分析必须要采用大功率波长型荧光,并且由于下照射在麦拉膜承载下没有不平的分析面(上照射必须通过不经济也不实用的方式解决液体张力产生的曲面),一定要选择下照射(下照射和上照射本质上只是不同的设计思路,不存在优劣问题。但由于下照射的适用面更广,世界主流荧光仪厂家仪器设计上采用下照射更多一些)。


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  • joe

    第20楼2013/11/26

    个人认为,对于波长色散型荧光仪来说至少要有1KW的功率才能在兼顾光管寿命的前提下达到强度要求。

    hkgt(hkgt) 发表:谢谢你的解答。还想问一下,X光管一般要多大的功率比较合适?

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