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  • 依风1986

    第11楼2014/04/15

    应助达人

    是的，大家在日常测试中应该有可能遇到

    tang566(tang566) 发表:两种波动都与仪器的稳定性有关，只是影响的部件和周期不同，前者也包含谱线的重叠干拢。

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  • abcpgf

    第12楼2014/04/16

    应助达人

    前者位置没变，可以理解为元素干扰，后者位置变化需要进行波长校准。

    tang566(tang566) 发表:两种波动都与仪器的稳定性有关，只是影响的部件和周期不同，前者也包含谱线的重叠干拢。

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  • tang566

    第13楼2014/04/16

    应助达人

    峰的高低有变，进样系统的稳定性不好，会对其有影响，如，残留、微堵等。

    abcpgf(abcpgf) 发表:前者位置没变，可以理解为元素干扰，后者位置变化需要进行波长校准。

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  • abcpgf

    第14楼2014/04/16

    应助达人

    是的，这种情况也有。

    tang566(tang566) 发表:峰的高低有变，进样系统的稳定性不好，会对其有影响，如，残留、微堵等。

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  • yangchengh

    第15楼2014/04/20

    强烈赞同，呵呵

    依风1986(xurunjiao5339) 发表:进样系统一般会导致测试样品结果重复性差，如RSD变大，谱线漂移的话那就是光室温度环境或者仪器自身稳定性导致波长漂移，需校正，如果校正不行，问题任然存在，就需要维修仪器了

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