您的意思是先校正光强的干扰?我看这个问题讨论不起来呀!没几个人参与。那就没意思了。老头
chemchenxj(chemchenxj) 发表:在原子发射光谱分析中,干扰效应算是最复杂的问题之一了,要是严格考究的话,专门写本书也不为过。
原子发射光谱分析法中干扰效应的分类方法本身就容易导致混淆,依其机理,一般可分为非光谱干扰和光谱干扰,非光谱干扰又可分为化学干扰、电离干扰、物理干扰等;光谱干扰又包括背景辐射干扰和谱线重叠干扰等等,其中背景辐射还能分为几种情况,总之,干扰是很复杂的。
这里只讨论简单的情况,比如就以钢铁或者钛合金中铝对碳的干扰为例,一般都使用C 193.090nm波长分析碳元素,但铝元素有Al 193.003nm谱线,与碳的分析谱线很接近,Al 193.003nm对C 193.090nm产生了重叠干扰。
对于这种情况,目前的直读光谱仪使用的是最简单的数学校正模型:IR=IR0-Σ(Fi*Ci),即都是先用碳的绝对强度除以参比线的绝对强度得到碳的相对强度IR0,然后校正后的碳相对强度IR=碳的相对强度IR0-校正系数F*铝的浓度CAl。
从物理意义理解的话,应该这样:校正后的碳的相对强度IR=(测得的碳绝对强度-因铝干扰而增加的绝对强度)/参比线的绝对强度,即先扣除重叠干扰的强度再计算相对强度,而不是先计算相对强度再进行重叠干扰校正。
不知道这样表述清楚了没有,希望能得到shguan老师的指导!