对这个确实没关系，准确的说，应该是电离电压导致电子流能量的大小，有时候真空度不好，分子平均自由程过短，导致电子流被阻截，所以会出现仪器调节灯丝端的电压，增大电流，从而增大电子的个数

首先，我仪器的真空度是良好的，不会出现因为漏气导致灯丝高温被氧化而烧坏，我要说的是，为了得到分子离子峰，可以降低电离电压，使电子流的能量降低，但是不能过于低，如低于10eV时，灯丝就可能会烧毁，这个也是不理解的地方，真空度良好，10负5torr，为什么电离电压过低会导致灯丝烧毁

应助达人

难道低的电子能量需要较多灯丝电流?不知道是怎样的关系?

对，我也搞不清楚，还请朱老师解答一下

这个我没解释清楚，我的意思，当真空度过低的时候.....

其实LZ的真空度过低的真正表述应是“高真空”，
害得大家说了一通真空度不够如何如何....

对滴，对滴，是我没说清楚，跟真空度没多大关系，主要是电离电压这个问题，也就是电子流能量的问题

这个能量与电压，是否适合某个方程呢？

电子流的能量是靠电离盒上的电压给定的，一般所说的70eV的意思就是电离盒和灯丝端的电势差为70V，电子经过加速后，动能到达70eV，从而能够碰撞分子使其失去电子破碎，可以更改这个电压，从而改变电子流的能量

70ev是标准谱库化合物裂解的电压，为了统一离子丰度，都采用70，这个应该是个不变的参数，不用多考虑

这个完全可以依待测组份而变，而且参数设置里是完全敞开的。

第三方检测大都基于标品定量，不必操心改变的后果。

LZ讨论和经历的事是，降低后的风险大。

因为降低它，可以做很多事！！！！、

原因是，我们不想让它解离太充分。

降低解离，得到的MS图应该和70ev下的不一样吧？