应助达人

光路对中自己会做吗？不会做找厂家的service engineer来做

楼主你好，想请教一个问题，我们的X射线衍射仪用的是Cu靶，为什么每次换光路校准的时候才用Ni的滤光片，校准后就取下来，滤光片不应该是在测试的时候一直在吗？请问您了解吗？

应助达人

一般来说光路校准的时候用的都是直射光,强度比较高,所以需要放一个Cu 吸收片衰减强度以防止打坏探测器. 不过现在的探测器一般都不太容易打坏了,但还是小心为上.
就我所知,目前只有理学的XRD是用借用Ni Kbeta 滤光片当这个吸收片的. 其他厂家都有再给单独的Cu吸收片.
至于你的第二个问题, 为什么测量的时候就不用Ni Kbeta 滤光片了,有可能是你前级用了CBO-α 平面镜 的DB光路. 那个平面镜可以起到过滤Kbeta光子的作用, 所以就不再用Ni Kbeta 滤光片了. 如果你的前级用的是一般的CBO,且选择的是BB光路,那是需要放Ni滤光片的.

应助达人

检查一下你的光路上是否有其他单色装置，比如石墨单色器啥的。光管出来的光并不是单一波长的，而是某个波段内各种波长都有，单色化有多种手段，Ni滤光片只是其中的一种。

谢谢您的回复，我检查了一下，确实像您说的，我们还有一个石墨单色器，在聚焦光路换成平行光路时，要卸下石墨单色器，换上Ni滤光片。在平行光路换为聚焦光路时，要安装上石墨单色器，就把Ni的滤光片收起来了。不好意思还要继续请教您一个问题，为什么在平行光路时不继续使用石墨单色器而是要用滤光片呢？

感谢楼主解答，我们的仪器确实是理学的，仪器前级是CBO。平常我们用聚焦BB和平行PB两种光路，在更换光路时用到了Ni滤光片 ，可能是像楼下说的那样因为有石墨单色器，所以滤光片就没有用，在聚焦光路时我们有石墨单色器，就没加滤光片，在改为平行光路时要卸下石墨单色器就加上了滤光片。

谢谢楼主.
低原子序数样品的穿透太深,造成衍射平面低于仪器圆中心. 有相关文献吗?我现在刚好遇到这个问题.
我做了一套Si纳米管（蚀刻的硅单晶片）的掠入射，确实存在这一现象。SiO2非晶膜随着深度增加（掠入射角增加），存在峰的右移。说明非晶膜在很深的位置。请问有没有计算深度的方法。
还有一个问题，这个样品检测出两个SiO2晶体（不同物相）的峰。一个无论深度变化，都与PDF卡片相吻合；另一个除了接近表面的图谱，其他深度都显示偏移。怎么解释呢？

应助达人

这个现象是针对主要含C H O的药品样品. 对于铜靶波长来说, Si的吸收很大, 不存在这个效应. 除非利用的衍射仪是Mo靶?
布鲁克的DIFFRAC.EVA和PAN的HighScore都在Tools下拉菜单里有计算信息深度的小工具.
你说的这个随深度增加的峰位偏移, 很可能是薄膜不同深度的应力造成的. 对于掠入射扫描, 一般用的是平行光, 峰位与样品高低无关. 除非你的掠入射数据没有用平行光?
[div]原文由 zircon2008(zircon2008) 发表:这个样品检测出两个SiO2晶体（不同物相）的峰。一个无论深度变化，都与PDF卡片相吻合；另一个除了接近表面的图谱，其他深度都显示偏移。怎么解释呢？[/div]如果你确实用的是平行光扫的掠入射, 那么峰位的偏移表示晶胞参数的变化, 并不受样品高度的影响.
很可能前者物相在表层, 后者物相在里层

应助达人

平行光路当然也可以用石墨单色器，但是要换一个，你手头的这个只适用于聚焦光路。聚焦光路的石墨单色器往往是弯曲的，带那么点会聚效果以增强信号。如果是平行光，用这个弯曲的石墨片就不合适了，需要用平整的石墨片。
什么意思呢？就是你要掏钱再买一个平晶的石墨单色器。我估计你们买仪器时当时预算不够，就只配了弯晶的单色器，没有配平晶的石墨单色器。石墨单色器再怎么便宜，也比滤光片贵。
不过你也不用纠结，用滤光片也可以的。只有在信号特别强时会看到一个小小的CuKb衍射峰。知道这个小小的峰来自于CuKb基本上影响很小了。