999youran
第14楼2014/12/31
恭喜你,算你答对了
X射线荧光测厚仪
英文名称:X Ray Fluorescence,缩写XRF,激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入
射X射线(初级X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出次级X射线,并
且不同的元素所放射出的次级X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来
的次级X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的
种类及含量。
主要技术指标:
可测元素范围:钛Ti~铀U
可测多层膜厚:最多6层
成分分析:可同时分析30种元素
测试范围与服务项目:测量常见镀层、涂层厚度分析