bairuizheng
第17楼2015/01/26
例如在红外分光光度计上,由于长波长的频率低,光路中的光强度会随着波长的变化而变化。我理解是红外谱看强度随波数变化,想麻烦请老师将“由于长波长的频率低,光路中的光强度会随着波长的变化而变化”的意思给在解释一下。谢谢!
夕阳
第19楼2015/01/26
(1)当分光仪器使用光电倍增管作为检测器时(目前大多数仪器如此),由于光学反射元件(含光栅)和检测器的响应强度与入射光的频率成反比,所以检测到的光源的强度会随着频率的减少或波长的增加而衰减,这是一个不争的事实,见下图:
上图是一台紫外可见分光光度计在同一个狭缝宽度的情况下(2nm)从1100nm扫描到200nm的光源强度的分布图。
从上图不难看出,仪器的波长越长,其光能量的衰减越厉害。由于氘灯发出的波长很短,所以在400nm以后就几乎没有能量了;为了照顾全波域的能量均衡,只能使用钨灯开互补了。这也就是为何紫外可见分光光度计使用双光源的初衷了。
(2)从上图可以推测出,在2nm狭缝的情况下,波长到了900nm时能量都如此之低了,那么在红外光谱仪中波长要是到达2600nm更是没有能量了,请见下图所示:
上图是一台U-4150型紫外可见近红外仪器从2500nm扫描到300nm的光源能量图;其中在这个全波域使用的均为同一个固定狭缝(2nm);从图中可以看出在同以一个狭缝下,红外区的光能量明显弱与可见区。所以,在红外区测量时仪器的狭缝不可能再使用小狭缝了,则需要将狭缝扩大才能增加光透量,已到达最佳的信噪比。
(3)尽管有的红外光谱仪为了提高长波域的信噪比,从而使用了发热体光源以及硫化铅检测器。但是光强度随着波长的增加而衰减是一个不争的事实。所以必须用连续可调的狭缝来进行光透量的补偿;见下图连续可调狭缝的实例照片(来自日立U-4100光谱仪):
该仪器的扫描波长从3200nm到240nm;光源为氘灯和钨灯;检测器为光电倍增管和硫化铅检测器(有制冷功能)。狭缝为三级连续可调的机械狭缝。下图是使用了这种伺服狭缝后的光源能量图:
从上图明显看到,使用了伺服狭缝后,红外区域的光能量明显得到提高。
(4)至于17楼版友提出的波数的概念只不过是波长的倒数的另一种表述方式而已;与光能量随着波长的增加而衰减并不矛盾。
bairuizheng
第20楼2015/01/26
谢谢,安老师详细的解释,我确实认为安老师在光谱仪器的研究上理解认识能力很强,我都同意您的解释。 我很高心兴:以后我有问题, 特别是实验上(就是原来文章的帖图,为了只让刀口仪从背景突出,而看得更清出,安老师特意加搭一个45度角的反射镜座,可调照以刀口为中心那一块的光斑大小),可以请教安老师了,谢谢安老师!
当然我个人理解是,用上面看电子态跃迁谱为主,为了扩大或充分利用设备效率,而配备硫化铅类的探测器能响应的近红外非常窄,这个范围内的分子振动谱要看精细即振转谱是不可能的,最多也只能看某些分子个别特别的强振动带(如水汽);好的红外光谱仪的透镜/光路转向/背景吸收、制冷等材料工艺,探测器(如镉锑汞)/红外型CCD、光源等都需要特别设计因此也特别贵,为了不总要调狭缝,测量累加信号的计算也很特别。红外这块咱们国家希望也能在世界上领先,如象美国那样可以用宽红外看宇宙的能力。
辛妈
第21楼2015/01/26
我正好有这方面的疑问,是不是分光光度计必须是多狭缝的或者是连续可调狭缝,灯能量的分布在各个波长才是均匀的?